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★ 石英垂直光轴切面的光性确定 一级灰干涉色 +石膏检板 二级篮（升高） 一级黄（降低） 图像相当于垂直光轴的一部分，也即斜交光轴切面的干涉图是由不完整的黑十字和不完整的干涉色圈组成。这种切面也可用于确定轴性及切面方向，测定光性符号，但关键是需要确定光轴出露点及对应的四个象限。其判别方法同垂直光轴切面干涉图。 （2） 斜交光轴切面干涉图 1) 光轴倾角不大时，光轴出露点仍在视域中心，四  个象限也比较清楚，很容易判别。（见下图） 2) 光轴倾角较大时，光轴出露点已不在视域中心，也没有黑十字存在，只有一根黑带。（见下图） 光轴出露点位置及象限归属的确定方法如下： 以顺时针转动物台为标准，黑带向下移动，光轴出露点在右边，黑带上部为二象限，下部为三象限；黑带向上移动，光轴出露点在左边，黑带上部为一象限，下部为四象限；黑带向右移动，光轴出露点在上边，黑带左部为三象限，右部为四象限；黑带向左移动，光轴出露点在下边，黑带左部为二象限，右部为一象限； 当光轴方向与上下偏光镜振动方向之一平行时，为一粗大的模糊的黑十字，转动载物台，粗大黑十字从中心分裂，并迅速沿光轴方向退出视域，故又称“闪图”。 （3）平行光轴切面的干涉图 观察干涉图应注意的问题： （1）首先使用低倍或者中倍物镜找到所需观察的矿物颗粒，置于视域中心后，换用高倍物镜。 （2）换用高倍物镜后，检查是否已准焦，准焦应注意物镜不要与薄片相碰。 （3）加上栽物台下的聚光镜后，要把聚光镜上升到最高位置，但不要与薄片相碰。 （4）检查高倍物镜是否需要校正中心。 （5） 干涉图是消光和干涉效应的总和。 第六节 透明矿物的系统鉴定 一、透明矿物的晶体光学分类 1、均质体:高级晶族、非晶质体 。 2、非均质体:中级晶族、低级晶族 。 一轴晶: (+)、(-) 二轴晶: (+)、(-) 二、透明矿物系统鉴定的内容 (一) 单偏光镜下(-N)： 1、晶形：需要综合各种切面进行归纳； 2、解理：不同方向的切面具有不同的解 理形态，需要进行综合归纳。 1) 无解理； 2) 有解理： 完善程度：极完全、完全、不完全。 解理组数：一组、二组及夹角。 3、突起：主要根据矿物颗粒的边缘、糙面及贝克 线移动方向来判断。 正突起：正极高、正高、正中、正低； 负突起：负高、负低； 4、颜色及多色性： 无色矿物：无多色性； 有色矿物：有多色性，无多色性。 (二) 正交偏光镜下(+N)： 消光类型及消光角、干涉色级序、双晶类型、延性符号、双折射率大小。 (三) 锥光镜下(C.L.)： 切面方向、轴性、光性。 一轴晶矿物 二轴晶矿物 三、系统鉴定程序 (1) 区分均质体和非均质体 均质体：各个方向切面全消光，无干涉图。 非均质体：仅垂直光轴切面全消光，有干涉图。 均质体：⑵在单偏光下观察晶形、解理、贝克线、突起等级、颜色、等。 非均质体：⑵在单偏光下观察晶形、解理、突起等级、颜色、多色性、测定解理夹角等。 非均质体： ⑶ 在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符号及干涉色级序等。 ⑷ 选择一个垂直光轴的切面，在锥光镜下确定轴性测定光性符号。如为有色矿物，在单偏光镜下观察No或Nm的颜色。 ⑸ 选择一个平行光轴或平行光轴面的切面，在正交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消光角的大小。如为有色矿物，观察No、Ne或Ng、Np等颜色。写出多色性和吸收性公式。 系统测定光学性质 查阅有关资料 定出矿物名称 * 右 * （1）、干涉色 如果光源为单色 光，在正交偏光镜45度位时插入石英楔，随着石英楔的慢慢推入，视域内依次出现明暗相间的干涉条带。亮带代表增强，暗带代表减弱。 4、 干涉色及干涉色色谱表 实验表明：光程差R＝ ｄ （N1-N2) 矿片厚度  如果光源为白光时，在正交偏光镜间，在45度位时插入石英楔，