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第四章 典型参数测试 1 温标、温度检测方法和分类 1 温标、温度检测方法和分类 2 热电偶及其测温原理 ——热电效应和热电偶 ——中间温度定律 ——中间导体定律和热电势的测量 ——标准化热电偶和分度号 ——热电偶的结构形式 3 热电阻及其测温原理 ——热电阻的测温原理 ——工业上常用的金属热电阻 三、热辐射测温仪 三、热辐射测温仪 三、热辐射测温仪 三、热辐射测温仪 三、热辐射测温仪 三、热辐射测温仪 6 温度检测仪表的选用 5 双金属温度计 第四章 典型参数测试 第三节 位移的测量 第三节 位移的测量 第三节 位移的测量 第三节 位移的测量 第三节 位移的测量 2 电容测量法 2 电容测量法 第三节 位移的测量 第三节 位移的测量 第三节 位移的测量 第三节 位移的测量 第四节 质量测试 第四节 质量测试 第四节 质量测试 第四节 质量测试 第四节 质量测试 第四节 质量测试 第四节 质量测试 第四节 质量测试 第五节 压力测量 压力单位 一 压力测量弹性元件 1. 波登管（弹簧管） 2. 膜片 3.波纹管 二 压力传感器 二 压力传感器 二 压力传感器 三、真空度测试 三、真空度测试 三、真空度测试 三、真空度测试 ——几个概念 流量检测的主要方法和分类 1 椭圆齿轮流量计——直接测量 2 差压式流量计 ——节流原理 ——流量方程 3 涡轮流量计 4 电磁流量计 ——电磁流量计的特点 ——电磁流量计的安装 5 转子流量计 5 转子流量计 ——基本知识 ——基本知识 ——运输包装件的振动 二 振动的激励 三 激振器 三 激振器 三 激振器 三 激振器 四、常用测振传感器 四、常用测振传感器 四、常用测振传感器 四、常用测振传感器 四、常用测振传感器 五、振动的测量 第五节 压力测量 压力测量弹性元件通常有波登管、膜片、波纹管等几种 。 横截面都是椭圆形或扁圆形的空心金属管，当管的固定端通入有一定压力的流体时，由于管内外的压力差（管外一般为大气压力），迫使管子截面从椭圆向圆形变化，这种变形导致波登管封闭的自由端产生线位移或角位移。 波登管横截面的纵横直径比愈大，灵敏度愈高，通常C形灵敏度低，可测几百兆帕的压力；螺线形、螺旋形灵敏度高，可测7MPa以下的压力。 波登管虽有较高测量精度，但因尺寸和质量较大，固有频率较低，且有明显滞后，故不宜作动态压力测量。 第五节 压力测量 受压力作用产生位移，可直接带动传动机构指示。但是膜片的位移较小，灵敏度低，指示精度不高，一般为2.5级。膜片更多的是和其他转换元件合起来使用，通过膜片和转换元件把压力转换成电信号。膜片的形状有平膜片、波纹膜片和隔膜三种。 第五节 压力测量 波纹管是一种表面有许多同心环状波纹的薄壁圆筒，位移相对较大，一般可在其顶端安装传动机构，带动指针直接读数。其特点是灵敏高（特别是在低压区），常用于检测较低的压力（1.0～106Pa），但波纹管迟滞误差较大，精度一般只能达到1.5级。 第五节 压力测量 第五节 压力测量 1. 应变式压力传感器 应变式压力传感器的原理，是利用粘贴在弹性元件上的应变片，感受压力作用时弹性元件的局部应变，测量被测压力值的大小。 图4.37 膜片应变式压力传感器 R2 R4 R3 R1 P 平膜片压力传感器的优点是结构简单，缺点是受温度影响较大，而使灵敏度下降。其原因是： A、流体温度的变化通过膜片传至应变片； B、膜片两侧的温差使膜片向温度高的一侧凸起，产生附加应力（应变）； C、膜片材料的弹性模量和泊松比随膜片温度的变化而变化。 Ui E － ＋ ＋ － r1 r2 R3 R4 A B (b)测量电桥 第五节 压力测量 2. 压阻式压力传感器 压阻式压力传感器是以单晶硅膜片作为敏感元件,在该膜片上采用集成电路工艺制作四个电阻，并组成惠斯登电桥。 压阻式压力传感器的灵敏度高，体积小，可靠性高，动态响应快。膜片直径甚至可以小到零点几毫米，频率特性可以达到几十千赫兹。但温度对膜片的影响仍较大，因半导体温度系数大，传感器的使用温度范围受限，一般都在100℃以内。 Ri1 Ri2 Ri3 Ri4 第五节 压力测量 3.压电式压力传感器 压电式压力传感器利用了某些具有压电效应的压电晶体（如石英、云母等）制成的。 压电式压力传感器对温度变化较为敏感，因此必须采取补偿措施。最大特点是固有频率高 ；主要用于动态测量。此外，压电式压力传感器还具有灵敏度高、体积小、线性好、刚度大、稳定性好等特点。 第五节 压力测量 1.波登管式真空计 3. 热电偶真空计 2. 皮拉尼真空计 4. 电离真空计 第五节 压力测量 1.波登管式真空计 弹簧管（波登管）的封闭端通过机械装