实验已经发现,不论我们把入射光强减弱到什么程度,只要屏幕的曝光时间足够长,我们仍然可以观察到双缝干涉的图象。当光强非常弱时,从光量子的观点看,入射光已弱到使光子一个一个地通过狭缝! 同时,现代的实验技术已可使电子流减弱到如此程度,使电子发射的间隔时间 或者,电子到达屏幕的间隔时间 比个别电子通过狭缝的时间长千万倍,当我们在屏幕上记录电子时,虽然在开始时得到的电子分布似乎是毫无规律的,但是,积累的时间长了,我们仍然得到了双缝干涉图象! 另外,不论光子、电子、还是中子、质子,我们都得到了类似的结果。这些结果充分表明干涉图象的出现体现了微观粒了的共同特性,而且它并不是由微观粒子相互之间作用产生的,而是个别微观粒子属性的集体质献。 我们一般认为,一个电子通过缝1 2 时,缝2 1 是否打开对它没有任何影响,这样的话缝1、2同时打开时屏上的强度应该是分别打开时强度之和,事实却非如此,即两个缝对同一电子都有影响,难道 如右图,P1、P2为光源,如果有电子通过,则通过的电子把光子散射到相应的探测器D1、D2中,从而就探测出电子的具体路径。但是最终结果却是:当我们在狭缝旁边窥视到电子的行为时,干涉就消失了;不窥视的时候,干涉现象又产生了! 电子分身! 这显然是不可能的。 为了理解电子干涉图样是怎么形成的,人们也用单个电子进行实验,右图是六张电子双缝干涉的比较图,图 a 是仅一个电子通过双缝在
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