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Al2O3薄膜的制备及在无机EL的应用.pdf

材料及器件 2006 863”资助项目。NO:2001AA311030 A1203薄膜的制备及在无机EL的应用 徐毅,林明通,陈涛,肖田,黄浩,陈晨曦 上海广电电子股份有限公司平板显示技术研究开发中心,上海200081 摘要 X12 纯Al靶含有1wt%si,尺寸56cm2。溅射气体为o。 A1203薄膜是最为成功的无机EL绝缘薄膜之一。用脉冲反应 溅射法制备了厚为50—340nm的A1203薄膜。研究了功率密 纯度为99.999wt%)。薄膜的介电性能优化采用MIM结构, 度、气压和氧气含量等参数对薄膜沉积速率和介电性能的影 响。发现在较低功率密度、气压和较高氧气含量下沉积的薄 cm:。薄膜 子束蒸发的Al,呈正方形,有效电极面积0.4625 膜的品质因子较好。同时与电子束蒸发的A1203薄膜的介电 厚度测试在Tencor台阶仪上进行,介电性能在自组装的改 性能作了比较,脉冲反应溅射制备的A1203薄膜的漏电流密 度要低两个数量级。把上述薄膜应用于ZnS:MnTFEL器件 试频率为20kHz,击穿场强的测试采用0.2MHz的三角波, 中,获得了最好的耐压大于320V、亮度达1760cd·m~。 通过示波器上的电流波形的变化判断介质是否击穿,测试漏 电流密度的电流计的测量范围10—3—10—10A。测试温度为 20 关键词 oC。 脉冲反应溅射;电子束蒸发;氧化铝薄膜;沉积速率;介电 溅射功率优化和速率测试的工艺条件:频率为70kHz, 性能;无机EL器件 占空比为30%,基片温度为150oC,气压为0.8Pa,Ar/02 sccm:60 流量比为230 sccm,工作电流为1.0—4.0A,工作 V。 1.引言 电压为363—632 kHz,占空 气压优化和速率测试的工艺条件频率为70 A1,O,薄膜具有优良的透明性、化学稳定性、电绝缘性、 比为30%,基片温度为150oC,工作电流为2.5A,工作电 热阻、力学强度和硬度,在光学、微电子学、光电子学和力 压为520—528V,Ar/02比为230sccm:60sccm,气压在0. 学方面有着广泛的用途。A1。O,薄膜有许多种制备方法,如电 3—1.8Pa之间。 子束蒸发法、射频磁控溅射法、直流反应溅射法、脉冲反应 氧气含

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