药剂学教学资料 药剂学第6，7章粉体学基础-修改.pptVIP

第六章 粉体学基础 1．掌握粉体粒子的性质。 2．熟悉粉体密度及孔隙率的概念及测定方法。 3．熟悉粉体流动性的评价与测定方法，影响因素及粉体充填性的表示方法。 4．熟悉粉体吸湿性与润湿性的特点及测定方法。 5．了解粉体压缩性及压缩方程。 第一节 概述 粉体学是研究无数个固体粒子集合体的基本性质及其应用的科学。 “粉”:100μm---流动性较差； “粒” 100μm---流动性较好。 单体粒子叫一级粒子 聚结粒子叫二级粒子 粉体的物态特征(第四种物态)： ①具有与液体相类似的流动性； ②具有与气体相类似的压缩性； ③具有固体的抗变形能力。 粉体学是药剂学的基础理论，对制剂的处方设计、制剂的制备、质量控制、包装等都有重要指导意义。 第二节 粉体的基本性质 一、粒子径与粒度分布 二、粒子形态 三、粒子的比表面积 1.几何学粒子径 (2)定向径（投影径）： (3)Heywood径： DH -投影面积圆相当径 细孔通过相当径--DA 。 相当--相同沉降速度的球形颗粒的直径。又叫Stocks 径，记作 DStk. 粒度分布--不同粒径的粒子群在粉体中所分布的情况，反映粒子大小的均匀程度。 粒子群的粒度分布可用简单的表格、绘画和函数等形式表示。 频率分布--（微分型） 百分数的基准可用个数基准、质量基准、面积基准、体积基准、长度基准等表示。 表示粒度分布时必须注明测定基准，不同的测定基准，所获得的粒度分布曲线也不一样。 不同基准的粒度分布理论上可以互相换算。 实际应用较多的是质量和个数基准分布。 是指由不同粒径组成的粒子群的平均粒径。 中位径是最常用的平均径，也叫中值径，在累积分布中累积值正好为50%所对应的粒子径，常用D50表示。 粒径的测定方法与适用范围 主要测定几何粒径。 光学显微镜-微米级，电子显微镜-纳米级。 测定时应避免粒子间的重叠。 主要测定以个数、面积为基准的粒度分布。 原理:当粒子→细孔时→电解质→电阻发生改变(电阻与粒子的体积成正比）将电信号换算成粒径，以测定粒径与其分布。 等体积球相当径，粒径分布以个数或体积为基准。 混悬剂、乳剂、脂质体、粉末药物等可以用本法测定。 原理：是液相中混悬的粒子在重力场中恒速沉降时，根据Stocks方程求出粒径的方法。 测得的粒径分布是以重量为基准的。 Stocks径的测定方法还有离心法、比浊法、沉淀天平法、光扫描快速粒度测定法等。 原理：粉体的比表面积随粒径的减少而迅速增加的原理，通过粉体层中比表面积的信息与粒径的关系求得平均粒径的方法。 可测定100μm的粒子，但不能测定粒度分布。 方法：将筛子由粗到细按筛号顺序上下排列。 获得以重量为基准的筛分粒径分布及平均粒径。 筛号与筛号尺寸：筛号常用“目”表示。“目”系指在筛面的25.4mm（1英寸）长度上开有的孔数。 中国药典在R40/3系列规定了药筛的九个筛号。 系指一个粒子的轮廓或表面上各点所构成的图像。 定量描述粒子几何形状的方法：形状指数和形状系数。将粒子的各种无因次组合称为形状指数，将立体几何各变量的关系定义为形状系数。 三、粒子的比表面积（自学） （一）比表面积的表示方法 粒子的比表面积(specific surface area)的表示方法根据计算基准不同可分为体积比表面积SV和重量比表面积SW。 Sw=6/?dvs； Sv=6/dvs Sw ,Sv分别为重量和体积比表面积， ?为粒子真密度，dvs体积面积平均数径。 比表面积是表征粉体中粒子粗细的一种量度，也是表示固体吸附能力的重要参数。可用于计算无孔粒子和高度分散粉末的平均粒径。 气体吸附法 气体透过法 第三节 粉体的性质 （一）粉体密度的概念 粉体的密度系指单位体积粉体的质量。 由于粉体的颗粒内部和颗粒间存在空隙，粉体的体积具有不同的含义。 粉体的密度根据所指的体积不同分为：真密度、颗粒密度、松密度三种。 1.真密度ρt 3.松密度（bulk density) ρb 1.真密度与颗粒粒度的测定：常用的方法是用液体或气体将粉体置换的方法。 （1）液浸法：采用加热或减压脱气法测定粉体所排开的液体体积，即为粉体的真体积。 最松松密度 最紧松密度。 最终振荡体积不变时测得的振实密度即为最紧松密度。 空隙率（porosity）是粉体层中空隙所占有的比率。 粒子内孔隙率 ?内=(Vg-Vt)/Vg =1-?g/?t 粒子间孔隙率 ?间=(V-Vg)/V = 1- ?b/?g 总孔隙率 ?总= (V -Vt)/V =1- ?b/?t 二、 粉体的流动性与充填性 粉体的流动性（flowability）与粒子的形状、大小、表面状态、密