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FMEA失效模式与后果分析 FMEA过程： FMEA是一种用以确保在产品和过程的开发过程中潜在问题被考虑并被阐明的分析方法（APQP—先期产品质量策划）。其最明显的结果就是跨职能小组的集体知识的文件化。 测量系统分析MSA 在PPAP手册中规定：对新的或改进的量具、测量和试验设备应参考MSA手册进行变差研究。 APQP手册中，MSA为“产品/过程确认”阶段的输出之一。 SPC手册指出MSA是控制图必需的准备工作。 ISO/TS16949要求，7.6.1 测量系统分析 为分析各种测量系统测量结果中出现的差异,应进行统计研究。 此要求应适于控制计划中提及的测量系统.所用的分析方法及 接收准则应符合顾客测量系统分析手册要求.如果得到顾客批准， 也可用其他分析方法和接收准则。 定义 测量系统 用于对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、 软件及操作人员的集合。 测量系统误差分成五种类型：偏倚、线性、稳定性、重复性和再现性 盲测法 在实际测量环境下，在操作者事先不知正在对该测量系统进行评定的条件下，获得测量结果。 基准值 也叫标准值，是一个基准。它可以通过采用更高级别的测量设备（例如，计量实验室或全尺寸检验设备）进行多次测量，取其平均值来确定的。 均值极差法 均值和极差法是一种提供测量系统重复性和再现性估计的数学方法。 测量系统变差的类型 对于大多数测量过程而言，总测量变差通常被描述为正态分布，正态概率被设想成为测量系统分析的标准方法。 位置变差（准确度） 一个表示准确的通用概念，它涉及一个或多个测量结果的平均值与一个参考值之间的一致的程度。测量过程必须处于统计控制状态，否则过程的准确度毫无意义。 宽度变差（精密度） 传统上，精密度描述了测量系统在操作范围（大小、量程和时间）内分辨力、灵敏度和重复性的最终影响。精密度最常用于描述测量范围内重复测量的预期变差，测量范围也许是大小或时间。 测量系统变差的类型—位置变差 偏倚 对同样零件的同样特性，真值（基准值）和观测到的测量平均值的差值。 测量系统的系统误差的测量。 稳定性 或称漂移，是测量系统在某一阶段时间内，测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量总变差。换句话说，稳定性就是偏倚随时间的变化。 线性 在设备的预期操作（测量）范围内偏倚的不同被称 为线性。线性可以被认为是关于偏倚大小的变化。 量具重复性和再现性(RR)的可接受性准则： 数值10%的误差测量系统可接受。 10%≤数值≤30%的误差测量系统可接受或不接受, 决定于该测量系统之重要性, 量具成本、修理所需之费用等因素，可能是可接受的。 数值30%的误差测量系统不能接受, 须予以改进. 进行各种分析发现问题并改正，必要时更换量具或对量具重新进行调整, 并对以前所测量的库存品再抽查检验, 如发现库存品已超出规格应立即追踪出货，通知客户, 协调处理对策。 重复性和再现性的接受准则 低于10%的误差 ——测量系统可接受； 10%至30%的误差——根据应用的重要性、量具成本维修的费用等可能是可接受的； 大于30%的误差 ——测量系统需要改进，不可接受。 SPC的作用 1、确保制程持续稳定、可预测。 2、提高产品质量、生产能力、降低成本。 3、为制程分析提供依据。 4、区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措 施或对系统采取措施的指南。 SPC常用术语解释 变差的普通原因和特殊原因 普通原因：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。 特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。只有特殊原因被查出且采取措施，否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。 管制图类型 计数型数据控制图 P管制图 P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。 不合格品数的np 图 采用时机：不合格品的实际数量比不合格品率更有意义或更容易报告。 各阶段子组的样本容量相同。 不合格（缺陷）数的 c 图 采用时机：C图用来测量一个检验批内的不合格（的缺陷）的数量， C图要求样本的容量恒定或受检验材料的数量恒定， 主要用于以下两类检验： 　　 ①不合格分布在连续的产品流上（如：每条尼龙上的瑕疵， 玻璃上的气泡或电线上绝缘层薄的点），以及可以用不