基于社会网络分析的专利基础技术识别——以半导体产业为例.pdf

第36卷 第4期 情 报 杂 志 V01．36 No．4 2017年4月 JOURNALOFINrEL】_JGENCE Apr． 2017 基于社会 网络分析的专利基础技术识别术 以半导体产业为例 王海龙 和法清 丁 垄 (大连理工大学科学学与科技管理研究所 大连 116023) 摘 要 [目的／意义]随着产业技术的快速发展和专利申请数量的迅速增加，如何从海量专利文献中有效识别产业 基础技术具有重要意义。[方法／过程]首先以USPTO数据库中的专利数据为样本构建技术领域引用矩阵，然后选 取社会网络分析的出度、入度、中介中心度、接近中心度、有效规模和限制度等6个指标建立综合评价指标体系。在 此基础上，采用熵值法赋权识别出技术领域引用矩阵中的产业基础技术，最后 以半导体产业为例进行了实证分析。 [结果／结论]结果表明，半导体装置的制造、活性固态元件、金属加工和涂层工艺等专利技术领域为半导体产业中的 基础技术；社会网络分析方法有助于快速有效识别产业基础技术。 关键词 专利数据 基础技术 共性技术 度中心性 社会网络分析 结构洞 熵值法 中图分类号 G353．1 文献标识码 A 文章编号 1002—1965(2017)o4一oo78—07 引用格式 王海龙，和法清，丁 坌．基于社会网络分析的专利基础技术识别[J]．情报杂志，2017，36(4)：78—84． DoI 10．3969／j．issn．1002—1965．2017．04．014 An IdentifyingMethodofIndustrialEssentialTechnologiesBasedonSocial NetworkAnalysis：SemiconductorIndustryasaCase W angHailong HeFaqing DingKun (InstituteofScienceStudiesandSTManagement，DalianUniversityofTechnology，Dalian 116023) Abstract [Purpose／Significance]Itsimportanttoidentifyindustrialessentialtechnologiesamongmassivepatentswhicharekeepinga rapidgrowthrate．[Method／Process]Thepaperfirstlyestablishesatechnologicalfieldscitationmatrixofsemi-conducotrin~strybased onpatentdatafrom USPTO andthenselectssixindicatorsofout—degree，in—degree，centralitydegree，closenessofdegreecentralityandef- fcetivesizeinsocialnetworkanalysis(SNA)tosetupameasurementfrmaework．Moreover，itdiscernstheesesntialtechnologiesofhte semiconductorindustryusingentropymehtod．Final】y，itconductsallempiricalnaalysisusinghtedaatofesmi—conductorindustry．【Re- suit／Conclusion]Resultsshowhtathteessentialtechnologiesofsemiconductorindustrymainlyincludehtefollowingpatentcategories： semi c