DOE印刷偏移改善报告-20130531.ppt

DEK印刷機印刷偏移改善 組 別 : 組 員 : SMT: MT: IE: QA: PE: 專案負責人: SMT – 內容大綱 研究動機/目的 研究動機/目的 在生產過程中經常出現0402類零件立碑不良,而造成 立碑不良的很大一個原因就是DEK機印刷偏移.造成印 刷偏移的原因又涉及到機構的調整以及參數的設置. 本次實驗的前提是固定機構問題.然後針對DEK機 印刷偏移的原因逕行因子實驗,以期找到最佳的參數逕 行調整,減少印刷偏移不良 現況分析 立碑平均 不良:29%, 在連續2 個月佔據: 現況分析 立碑的零件分布狀況 現況分析 引起0402類零件立碑不良的原因分析 現況分析 現行參數設置下的錫膏偏移量狀況 問題類型定義-X型 目標擬定-改善目標設定 目標擬定—特性值定義 特性值: 錫膏印刷偏移量(單位:mm) 特性值特性:望小特性 量測設備: AOI(自動光學檢測儀) 量測腳位: 如后所示 計算方法: 1.每種組合量測10片機板 2.每片機板量測五個0402類零件的PAD 的錫膏偏移量,取偏移量的最大值 做為該片機板的錫膏偏移量. 3.再以每片機板的錫膏偏移量取平 均值作為該組合的錫膏偏移量. 量測設備:AOI(自動光學檢測儀) 目標擬定—特性值定義 因子選定I—特性要因圖 因子選定I—因子評量表 因子選定I—因子評量表 因子選定I—因子評量表 因子選定II—固定因子 機種: Rock Lake(Intel) 線別: I4線 鋼板: 固定使用一塊鋼板 刮刀: 使用同一付刮刀. 機構狀態:在第一階段實驗前,請廠商對設備機構進行保養. 因子選定II—實驗因子 B因子: 軌道寬度 因子選定II—實驗因子 E因子: Mark之間的距離 第一階段實驗 L16(215)直交表/隨機實驗順序 第一階段實驗 葉氏演算法 第一階段實驗 ANOVA分析 第一階段實驗 第一階段實驗 B因子:軌道寬度 估計貢獻度為0 代表B因子在其兩水準之間 對錫膏印刷偏移沒有影響. 所以將其列為固定因子 第二階段實驗 A,C,D在高水準時S/N比最大,損失最小. 所以選擇A,C,D的高水準作為第二階段的高水準 第二階段實驗 第二階段實驗 ANOVA分析 最佳生產條件 再現性實驗 再現性實驗 標準化 效益評估 效益評估 效益評估 后續工作(1) 后續工作(1) 后續工作(2) 根據改善的效果,考量研究印刷偏移量與立碑之間的因 果關係,確定管制標準,甚至可以考慮導入日常管制!!! DEK印刷機印刷偏移改善 班別與批號的變異均不顯著 再現性實驗成功 !!!!! 實驗前參數設置: 刮刀壓力: 6.0KG* 刮印速度: 40MM/SEC* 真空吸力:0.4SEC Mark點距離:361.9 軌道寬度: 244.3 實驗后參數設置: 刮刀壓力: 5.4KG* 刮印速度: 50MM/SEC* 真空吸力:0.4SEC Mark點距離:361.9 軌道寬度: 244.3 DEK印刷機印刷偏移改善 改善前後現況比較: DEK印刷機印刷偏移改善 1--生產狀況來看,立碑不良率從29%降到18% 2--單線每周少生產不良板66片,以每片機板維修2分鐘計算: 節約工時=66片*2min/片*8line*4週=4224(min/月) 折合成本=90元/h*4224/60=6,336(元/月) DEK印刷機印刷偏移改善 3--改善前觀察到印刷偏移,設備作相應的調整,每天每條線約需要調整合計5min/天,以8條線月產量計算: 標準產量1500片/天 每片加工利潤90元/片 節約工時= 5min/天*30天*8=1,200(min/月) 產量提昇利潤=1200/60/24*1500片/天*90元/片 =112,500元 每月總成本節約=6,336+112,500=118,836元 DEK印刷機印刷偏移改善 DEK印刷機印刷偏移改善 持續收集30天立碑的良率狀況,做管制圖管制.並確認 持續改善效果!!! 結論: 10月份的資料顯示持續效果顯著 資料來源:Intel e化報表 DEK印刷機印刷偏移改善 10月份0402類零件立碑不良的原因分析 資料來源:Intel e化報表 印刷偏移有持續改善的效果! * * D.O.E實驗設計: