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第41 卷第3 期 稀有金属材料与工程 而1.41 ， No.3 2012 年 3 月 RARE METAL MATERIALS AND ENGINEE RlNG March2012 U-Ta 合金中 Ta 含量的 EDXRF 法测定 杨锁龙 1 ，余春荣 2 ，杨光文2 ，高 戈 2 ，吴伦强 2 (1.表面物理与化学国家重点实验室，四川绵阳 621907) (2. 中国工程物理研究院，四川绵阳 621900) 摘 要g 介绍了用能量色散X 射线荧光光谱 (EDXRF) 法测定 U-Ta 合金中 Ta 含量的分析方法。该方法将样晶消解，加 载于滤纸片上，制成滤纸试样片，用 X 射线荧光光谱仪测定试样片中 Ta 含量.该方法简便、快速、准确，适用于 Ta 含量在 1%-6%范围的 U-Ta 合金样品的 Ta 含量测定.对 Ta 含量为1.5%的样品，测量结果的相对标准偏差价=6) 不大 于 0.6%: Ta 含量为 5%的样品，测量结果的相对标准偏差价=6) 不大于 0.3%。 关键词， U-Ta 合金:X 射线荧光光谱分析: Ta 含量 中图法分类号， 0657.34 文献标识码， A 文章编号， 1002-185X(20 12)03-0539-03 U-Ta 合金是在金属铀(U) 中加入少量金属坦 (Ta) 2 实验 形成的合金。钮金属具有硬度高、韧性强、热膨胀系 数小、耐腐蚀性能优异、低温塑性好的特性。钮与铀 仪器I (1) X 射线荧光光谱仪(美国 EDAX 公司 合金化，一方面可以提高铀金属的韧性，同时还可以 DX-95 型，对 5.9 keV 峰的分辨力 FWHM=165 eV); (2) 增强其耐腐蚀性。 U-Ta 合金是近年来开发的重要新型 电热板(2400 W); (3)微量移液器。 工程材料，其中 Ta 和 U 的含量比、 Ta 的偏析直接影 试剂与材料: (1) U 0 粉 (99.99%); (2) Ta20S 3 S 响 U-Ta 合金的使用性能。用能量色散 X 射线荧光光 粉(99.99%); (3)氢氟酸 (HF， AR); (4) 硝酸(HN03 谱 (EDXRF) 法分析常量金属元素具奇制样简单、快 AR); (5) 拧撵酸(C H 0 .H 0，饱和溶液); (6) 聚 s 7 6 2 速、准确等优点11-31 。目前，尚未见到用 XRF 法测定 四氟乙烯烧杯 (25 mL); (7) 滤纸片 ;40mm); (8) U-Ta 合金中 Ta 含量的相关报道。本研究采用 EDX盯 聚四氟乙烯片 (50 mm x 50 mm); (9) 塑料试样杯; x 法测定了 U-Ta 合金中 Ta 含量，建立了 U-Ta 合金中 40 mm 40 mm); 10) Mylar 膜〈厚度6μm)。 Ta 含量的分析方法，其测量结果具有较高的精密度和 试样形态选择z 本项目要求测量的样品为切屑