铝电解质分子比的X-射线荧光光谱法测定.pdfVIP

第27卷第2期 冶金分析 V01．27。No．2 2007年2月 MetallurgicalAnalysis February，2007 文章编号：1000一7571(2007)02一0024一05 铝电解质分子比的X-射线荧光光谱法测定 高新华“，舒军2，张鹏3 (1．钢铁研究总院，北京100081；2．兴澄特殊钢有限公司，江苏江阴214429； 3．鞍钢新轧质量检验中心，辽宁鞍山 114021) 摘 要：铝电解质分子比是铝电解生产中的一项重要指标，本文用X射线荧光光谱法测定电 解质中各化合物的浓度，达到计算分子比的目的。将研磨到一定粒度的样品在300kN的压 力下压成圆片，然后在优化的条件下进行测定。采用电解质标样建立校准曲线，物理和化学影 响采用数学方法校正，通过应用软件中的函数计算功能，根据测定元素的浓度自动计算分子 比。该方法已用于多元铝电解质分子比的测定，测定结果与X射线衍射法相符。对同一样品 进行14次平行测定，所得到的相对标准偏差为O．48％。 关键词：电解质；分子比；x-射线荧光光谱法；测定 中图分类号：0657．34 文献标识码：A 铝电解质的酸碱度是铝电解生产中的一项重 1 分析原理 要技术参数，影响电流效率和能耗。在现代铝工 业生产中通常采用酸性电解质，其中含有过量的 XRF法测定铝电解质的分子比与其他材料 氟化铝。我国通常采用NaF／AlF3的摩尔比表示的定量分析一样，是以元素分析为基础的一种普 电解质的酸度，即称为分子比，而欧美通常采用质 通方法，其关键在于测准每个组成元素的含量。 量比表示电解质的酸度。通过换算可知，分子比 若以氧为基础，必须准确测定o，S等元素的含 数值上为其质量比数值的2倍。在铝电解生产中 量，这是影响分子比计算的关键元素；若以氟为基 发现有些添加剂对于分子比的数值产生不同的影 础，则必须准确测定F，Mg，Ca，Cl等元素的含 量，Li的含量可用平衡方法得到。众所周知，在 响，如MgF：(如同AlF3)是一种酸性物质，它的加 入可能减小分子比；为了改善铝电解的物理化学 XRF法中，存在两种干扰，是影响光谱强度准确 性能，采用了多种添加剂如CaF。，MgF。，“F等，测量的因素，必须加以校正。一种是光谱的波长 添加剂的加入使电解质的组成复杂化并影响分子 或能量重叠，称为物理影响；另一种是共存元素间 比的数值；LiF如同NaF是一种碱性物质，它的的吸收或增强效应，称为化学影响。对于这两类 加入，会增大分子比。以往均以X射线衍射 影响统称基体效应，可以用数学方法加以校正‘2|。 (XRD)法测定分子比[1]。通过测定物相的方法仪器软件中提供了相关的校正软件。在最新的仪 来计算分子比，以克服x-射线衍射法对样品化学 器软件中提供了只需要少量近似标样的基本参数 组成定量准确度差的不足，从而改进了电解质分 程序(FP)，使校正计算大大简化，精度改善。数 子比的测定方法。随着仪器技术和计算技术的飞 学校正的基本公式如下： 速发展，xr射线荧光(XRF)光谱分析方法不仅能 Ci=(Di+EfR；)(1+∑口iCi) 对样品组成元素进行定性和定量分析，而且能准 校正以上所述的物理和化学影响采用如下数学公 确测定铝电解质的分子比。本文主要介绍XRF 式： 光谱法在铝电解质分子比测定中的应用。 收稿日期：2006一05—10 一24— V01．27．No．2 乏嚣麓铲 高新华等：铝电解质分子比的x一射线荧光光谱法测定 February，2007