手机外壳对天线频率影响的模拟分析.pdfVIP

題目：手機外殼對頻率影響之模擬分析 公司名稱：勢流科技股份有限公司 使用軟體名稱：Micro-Stripes V 6.5 一、前言 本文以 Nokia 3310的天線模型為範例，並利用高頻電磁模擬軟體Micro-Stripes作為數值模擬 之工具，模擬手機外殼對天線的影響，並敘述其天線的相關參數與輻射特性。 二、內容 此天線的幾何結構主要包含一個接地面與距離此接地面上方 8mm 的地方，放置一個平面的 天線主體(其外觀可如圖一所示)，此接地面與天線的材質為銅 ，且厚度分別為 0.1mm與 0.5mm， 3 接地面 的尺寸設定為 41.5*115*0.1mm 。在天線與接地面外有厚度 2mm的外殼（外觀為 3 47*115*20mm，如圖二所示），外殼的材質設為ro3003（permittivity為 3 、conductivity為 0.00216）。 圖一與圖二右圖為軟體於幾何結構建立之後，依此結構自動產生非均勻網格分佈(non-uniform grid distribution)。 圖一、利用Micro -stripes 所建立天線與接地面的模型與網格分佈情形 圖二、利用Micro -stripes 所建立天線加上外殼的模型與網格分佈情形 三、分析結果 本天線設計為雙頻的收發天線 ，頻率 目標落在900 MHz（880 ~ 960 MHz）與1800 MHz（1710 ~1880 MHz）以符合GSM 系統之頻段，我們利用電磁模擬軟體 Micro-Stripes分析計算，並就其計 算後之後處理結果做簡單的說明。由圖三的Return loss參數的曲線（黑色為沒加外殼；紅色為加 上外殼），可發現在兩個頻率有相對最小的 Return loss值出現，該值表示的系統訊號輸至天線， 也就是於饋入端的訊號反射情形，當此值愈小，表示反射能量愈小，也就是大部份的能量均傳遞 至天線。因此，由圖三的 Return loss參數曲線可看到，當沒有外殼（黑線）時，頻率在 922MHz 與 1.93GHz，能量反射最小，兩頻率之 Return loss值分別約為-24dB與-14dB；當有外殼（紅線）時， 頻率在 894MHz與 1.86GHz，能量反射最小，兩頻率之 Return loss值分別約為-20dB與-15dB。兩頻 段的 Return loss值之差異原因可由 Smith Chart中看出其阻抗匹配的狀況，並可藉由該圖做為進一 步調整天線的阻抗匹配之依據。 圖三、Return loss 與 Smith Chart 之模擬結果 （黑色為沒加外殼；紅色為加上外殼） 圖四為有加外殼的天線於低頻頻段(894MHz)所表現的遠場場形圖，左邊黑色線代表 E-Plane 的輻射場形，紅色則表示H -Plane的輻射場形，由圖中參數亦顯示該頻段之天線增益(Antenna Gain) 大小為 2.34dBi；圖五為有加外殼的該天線於高頻頻段(1.86GHz)所表現的遠場場形圖，天線增益 (Antenna Gain)大小為 3.76dBi。從兩者的比較也不難發現，雖然是同一個天線所發射出的輻射場 形，低頻與高頻所展現出來的並不盡相同，甚至有可能相差甚遠，造成如此結果的原因所需要考 量的因素相當多，包括了波長頻率與相位等的影響，當然幾何結構與接地面相對位置亦有相當程 度之影響，在天線設計時，如何有效的調整期望之場形以期達到預期的天線效果仍是具有相當挑 戰性的議題。 圖四、894.MHz 之 2D 天線輻射場形圖 E-Plane(黑) 、H-Plane(紅)與 3D 場形圖 圖五、1.864GHz 之 2D 天線輻射場形圖 E-Plane(黑) 、H-Plane(紅)與 3D 場形圖 更近一步分析外殼材質的不同所造成的影響，圖六為材質不同的模擬結果(介電係數由小到 大分別為紅‡綠‡藍色，但三種材質之導電率亦略有不同 ；黑色為未加外殼)。結果如表一，可以 看出材質對高頻（1800頻段）所造成的頻偏是大於低頻（900頻段 ）。 圖六、外殼不同材質 Return loss 之模擬結果 。 表一： Return loss （MHz ） 與原始天線比較頻偏（MHz ） 外殼材質