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HYA2010-C系列： 创新包括：1.加热脱气和样品分析同位进行而不会对样品分析管路造成污染的世界独创先进专利技术；2.智能选择多容量空间技术；3.全不锈钢真空系统连接密封采用金属密封技术；4.真空系统内壁采用镀银技术。5.真空系统采用测试空间外面另加一层真空保护层技术。6.超微孔测试技术。 仪器主要特点： 真空系统：中科院真空处理专家专门为HYA系列设计的真空系统，全不锈钢管路和国际知名真空电磁阀配套，真空度更高（最高可达10-8Torr）,保持高真空度时间更长。配置高真空分子泵真空泵机组。 检测系统：进口电容式绝压薄膜压力变送器[每一路含0-10 Torr、0-1000 Torr各一支[含检测证书]]，精度达到0.1%，高达24位AD采集电路确保数据的准确性。 其他配置: 高精的控制阀使抽气和进气非常稳定，不会出现样品飞溅现象。特殊的气路处理，避免了样品管从脱气站到分析站转移过程中的二次污染。独立的P0管，确保P0值的准确无误。HYA配置了大容量液氮杜瓦瓶，可保70小时无人介入操作。HYA还配置了液氮等温套，以确保整个分析过程中等温套以下的温度恒定。 真正的无人值守，仪器面板无任何手动按键，所有的操作程序均由计算机来控制。 分析范围广：比表面积0.0005（Kr测量）至无上限。孔径分析0.35nm-500nm(氮气吸附，可加配备高真空系统)。 适用产品多：包括测量建材、石墨、电池材料、沸石、碳材料、分子筛、二氧化铝、土壤、有机化合物等粉体以及各种块材、片材、高分子纤维等。 先进的设计理念：HYA系列仪器的最大设计特点，除了外观大气、精致以外，内部空间宽大，便于维修，更是任何一款基本配置的仪器可以升级成为顶级配置的仪器。 仪器软件功能强大，包含目前所有的数据处理方法： 单点和多点BET比表面积。Langmuir比表面积。 吸、脱附等温线分析。 BJH中孔和大孔的孔体积，孔面积对孔径的分布，总孔体积等。 可以加t-plots微孔分析，as-plots微孔分析，MP微孔分析等。 可加DFT密度函数理论，包括NLDFT等。 总体尺寸：650X650X960. HYA2010-C1全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪 仪器外观图如下: 仪器型号：HYA2010-C1 产品名称：全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪 产品型号;HYA2010-C1 产品类别：物理分析仪 性能参数： 1.测试方法:借助于气体吸附原理，静态真空容量法。 2.吸附气体：氮气，氢气，氪气，一氧化碳，二氧化碳，甲烷等。 3.进气预留口数量：6个 4.比表面积分析范围为0.0005 m2/g至无上限。 5.孔径的测量范围为3.5埃至5000埃。 6.微孔区段的分辨率为0.2埃。 7.孔体积最小检测: 0.0001 cc/g。 8.主机功能：借助于气体吸附原理（典型为氮气），吸附、脱附等温线测定。单点和多点BET比表面积。Langmuir比表面积测定。BJH介孔、大孔分析。BET比表面积测定。t-plots图法微孔分析，以及外表面积测定。as-plots微孔总面积。MP法微孔分析。可以升级可进行DFT密度函数理论；包括NLDFT理论等。 产品介绍 HYA2010-C1装有2路共4个传感器(国产唯一)，一路对P0适时测试，确保P0的准确性，另1路对1个样品同时进行分析，可以测试1个样品的比表面积和孔径分布（包括超微孔）。 (注：加装有分子泵)。 HYA2010-C2全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪 仪器外观图如下: 仪器型号：HYA2010-C2 产品名称：全自动静态容量法比表面及孔径分析测试仪 产品型号;HYA2010-C2 产品类别：物理分析仪 性能参数： 1.测试方法:借助于气体吸附原理，静态真空容量法。 2.吸附气体：氮气，氢气，氪气，一氧化碳，二氧化碳，甲烷等。 3.进气预留口数量：6个 4.比表面积分析范围为0.0005 m2/g至无上限。 5.孔径的测量范围为3.5埃至5000埃。 6.微孔区段的分辨率为0.2埃。 7.孔体积最小检测: 0.0001 cc/g。 8.主机功能：借助于气体吸附原理（典型为氮气），吸附、脱附等温线测定。单点和多点BET比表面积。Langmuir比表面积测定。BJH介孔、大孔分析。BET比表面积测定。t-plots图法微孔分析，以及外表面积测定。as-plots微孔总面积。MP法微孔分析。可以升级可进行DFT密度函数理论；包括NLDFT理论等。 产品介绍 HYA2010-C2装有3