分析1 可靠性的数学基础.pptVIP

设各单元可靠度分别为Rij(t)，i =1,2,…,n j =1,2,…,mi，且各单元相互独立，有 若ｍｉ= ｍ，且各单元可靠度相等，Rij(t)=R(t)，则 其他各参量均可由Rs(t)求出。 4.5 冷贮备系统 图23 贮备系统的结构 贮备系统的结构如右图所示。 开关S表示一套由敏感元件和开关组成的转换开关。 贮备系统有各种不同的形式，开关可以是完全可靠的(理想开关)，也可以是不可靠的； 备用单元在贮备期中可以是完好的冷贮备，也可以是可能失效的热贮备。 若系统有两个单元组成，单元寿命分别为x1和x2，且它们相互独立，其分布函数分别为F1(t)和F2(t)，则系统的工作寿命为 若单元的寿命服从指数分布，即 则 其中xi为第i个部件的工作寿命，Fi(t)为xi的分布函数，i =1, 2, …, n+1, 式中qi为第i个单元的平均寿命。 若系统S由n+1个部件组成，其中一个部件工作，n个部件备用，则系统的可靠度为 若所有单元均服从指数分布，第i个单元的失效率为li，则 结论： 串联系统的寿命为单元中最小的寿命，并联系统的寿命为单元中最大的寿命，而理想开关冷贮备系统寿命为所有单元寿命之和，说明冷贮备系统的可靠性最佳。 5 分布的检验 从可靠性试验得到的数据要确定它服从何种分布时，通常有两种方法。 直观的作图法：根据试验数据进行一定的处理，看它是否服从假设的分布。 解析检验法：在总体中抽取子样，分析子样的随机性引起的偏差，先确定一个偏差的界限，若偏差大于界限，则假设的分布就不正确，需要放弃；否则应予以接受。 * * 相应的各有关特征量为 对数正态分布常用于设备维修时间的分布及材料的疲劳寿命方面，在半导体器件的寿命分布中也有应用。 注：从数理统计可知，若某一随机变量受许多随机因素之和的影响，则它服从正态分布；若其受许多随机因素乘积的影响，则它服从对数正态分布。 图９ 图１０ 对数正态分布的密度函数曲线和对数正态分布的失效率曲线 表2 常用连续型概率分布 34 ３ 产品的寿命表征 3.1 平均寿命 对于不可修复的产品，是指产品发生失效前的工作或贮存的平均时间；通常记作tMTTF。 对于可修复的产品，寿命指的是两次相邻失效(故障)间的工作时间，而不是每个产品的报废的时间。对于这类产品，平均寿命指的是平均无故障工作时间。通常记作tMTBF 。 两个定义在数学上的表达形式是一致的，故我们通称为平均寿命。 如果在一批产品中取n个样品进行寿命试验，得到各样品的寿命为t1、t2、…tn，则它们的平均值　就是该组子样的平均寿命。即 当n很大时，采用积分的形式可以将总体的平均寿命表示为 假如产品的失效分布服从指数分布，即 则服从指数分布的平均寿命q为 可见对指数分布而言，其平均寿命与失效率之间互为倒数关系。 3.２ 寿命方差和寿命标准离差 寿命方差和寿命标准离差是反映产品寿命波动或离散程度的特征量。 子样寿命方差D(T)的定义是子样的每个观测值ti与子样平均寿命的离差平方和被n-1除，即 当随机变量的可能值密集在平均值的附近时，方差较小；相反则方差较大。故由寿命方差的大小可以推断产品寿命分布的离散程度。 寿命标准离差就是寿命方差的平方根。 总体的寿命方差s2是t与总体平均寿命m之差的平方的平均值。 在实际工作中，总体的方差可以用子样的方差来估计。 3.3 可靠寿命、中位寿命及特征寿命 可靠寿命：使可靠度等于给定值R的时间t称为可靠寿命。记为tR。如图所示。 R(tR) = R 图11 对于指数分布的情况，根据R(tR) = exp(-ltR)=R的关系，可直接求出tR ，即 由此可以求出指数分布的产品，在任意可靠性水平下的可靠寿命。如下表所示。 R 0.9999 0.999 0.99 0.9 0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0.05 0.01 tR 0.0001 0.0010 0.010 0.105 0.223 0.357 0.511 0.693 0.916 1.204 1.609 2.302 3.000 4.605 表３　指数分布的产品在不同可靠水平下的可靠寿命　　　单位q R= 0.5时的tR称为产品的中位寿命； R= 1/e时的tR称为产品的特征寿命。 图12 可靠性各主要特征量之间的关系 ４ 可靠性框图和数学模型 4.1 基本概念及其意义 可靠性框图（又叫逻辑图或可靠性结构模型） 数学模型 图13 LC振荡回路及其可靠性框图 (a) 电路； (b) 可靠性框图 S1 S2 S1 S2 S1 S2 (a) (b) (c) 图14 (a) 电路中串联两个开关；(b) 开关起接通电路