用带电测试介质损(tgδ)判断变压器套管绝缘状况.docVIP

用带电测试介质损(tgδ)判断变压器套管绝缘状况摘要：本文对一只110kV电容式套管，在更换胶垫后，发现其介质损tgδ明显增大。对这一试验结果进行分析，并提出用带电测试进行跟踪监测，准确地判断套管的绝缘状况。 关键词： 套管；介质损耗；测量；判断 中图分类号：TM934.32 文献标识码：B Abstract:The article analyses the result of the experiment :when the rubberized pad of a 110kV capacitance bushing is changed , the medium loss will increase obviously. And the artide also puts forward the way to measure it followingly using the test with electric current to decide the condition of the insulation exactly. Key words:bushing;the medium loss;measure; decide 1前言 我局2005年一台110kV主变，因发现其110kV侧高压套管C相顶部渗漏油，必须进行现场更换胶垫。更换套管胶垫前后，对套管进行了介质损tgδ测量，发现其数值有明显增大。且超过DL/T596－1996《电力设备预防性试验规程》值。在现场进行了分析判断，提出用带电测试[1]进行跟踪监测，以判断其绝缘状况。 2试验结果 现场试验结果如表1所示。 表1：现场试验结果 由表1可知，2005年8月24日套管的介质损tgδ测量值较2004年预试tgδ测量值有明显增加。不仅是更换处理胶垫的C相套管，还是其它二相（A、B相）套管，检修前后其tgδ测试值均明显增大。此次试验与2004年试验时的条件除了温度、相对湿度不同外，还有在套管上搭有起吊构架（以便进行现场检修工作）。 表1试验结果表明，2005年8月24日的测量值不仅与2004年预试结果不同有明显增大外，且已超过了DL/T596－1996《电力设备预防性试验规程》的规定值tgδ≤1.0%。 3试验结果的分析 （1）理论分析表明，电容式套管的tgδ测量与温度的关系，对良好绝缘的套管而言，可以不计及。一旦出现介质损tgδ与温度t℃关系，tgδ= #402;（t℃）当温度上升时tgδ有明显增大时，则表明套管有受潮缺陷。 套管温度应按下式计算 t套=0.66t油+0.34t外 式中t套 ――套管温度℃ t油――变压器上层油温℃ t外――外温℃ 2004年预试时，套管温度按上式计算应为 t套=42.48℃；而检修前t套=44.82℃，检修后t套=41.6℃。 从上述计算可知，三次tgδ测量时其温度基本相同。 （2）测量时相对湿度在（63－80）%之间，按DL/T596－1996《电力设备预防性试验规程》不大于80%规定，基本是满足的。但从现场大量试验表明，当相对湿度大于70%时，相对湿度还是有影响的，其影响既可能使实测tgδ值增大，也可能使实测tgδ值减小。应视现场的干扰网和套管表面状况，周围物体等因素有关，一般不应简单地用一种模式判定。而检修时相对湿度80%的影响在当时是明显存在的。 考虑到套管表面泄漏电导的影响，其等值回路如图1(a)，图中R1、R2、R3表示瓷套表面的等值分布电阻；C1′、C2′、C3′为相应的分布电容。因表面相对湿度较大，此时表面电位分布主要取决于电阻R1、R2、R3。由于表面泄漏电导的影响使表面电位按电阻R1、R2和R3强行分配，改使C1与C1′点电位不相等而有一电位差，于是存在于电容式套管电容层与瓷套表面的等效电容C11，就起作用，且有一个电流流过。此时可简化为图1（b）,其向量图如图1（c）。 图1：正接线测量时等值电路及向量图 流过C11的电流为i11=i11′-i11″；由图一（c）可知，当?i11′??i11″?时，则有偏小的测量误差；而当?i11′??i11″?时则有偏大的测量误差[2]。 （3）2005年检修前、后的tgδ测量，套管上有检修和吊装构架。这些构架对小电容试品的套管形成一个“空间干扰”。由于被试品电容量小，空间干扰的影响相对也较大。所以检修前就发现三只套管的tgδ值普遍增大。理论分析，三只套管同时劣化的可能性是很小的。检修后构架和吊装装置依然存在。所以，仍有tgδ测量误差存在。构架拆除后，再次测量三只套管tgδ值分别为 A相：CA=389.8PFt