USB2.0协议理念之工业CT探测采集传输体系设计与实现.docVIP

　　USB2.0协议理念之工业CT探测采集传输体系设计与实现 1 绪 论 1.1 课题背景 工业 CT 即工业计算机断层扫描成像简称 ICT，是利用射线在被测工件无损状态下，从多个方向以扫描方式透射被检测物体某断层，用专门的探测器把经过被检物射线衰减后的信息采集下来，通过计算机采用专门的图像重建算法，把被扫描断面以二维灰度图像形式展现出来，其检测直观结果就是被检断层的断面图像[1]。它是计算机技术与放射学相结合产生的一门新的成像技术。从本质上说工业 CT 也是一种射线检测技术，但相比而言有其独特的优点；它是在无损伤状态下得到被测物体断层的二维灰度图像，以图像的灰度来分辨被检断面内部的结构组成、装配情况、材质状况、有无缺陷以及缺陷的性质和大小等[2]。工业 CT 通过对试件扫描断层的图像重建，可以直观地看到试件细节的形状、大小、空间位置等特征，不受周围的遮挡，图像更容易识别和理解；它克服了一般透视照相法影像重叠与模糊的缺点，对比灵敏度比常规射线检测技术高两个数量级；工业 CT 具有突出的密度分辨能力；其是数字化图像，便于存储、传输、分析和处理。正是基于以上优点，工业 CT 技术才被国际无损界公认为最佳的无损检测手段[3]。20 世纪 80 年代以来，国际上主要的工业化国家已把 X 射线或gamma;射线的 ICT 用于航天、航空、军事、冶金、机械、石油、电力、地质、考古等部门的 NDT（无损检测）和 NDE（无损评价），检测对象有导弹、火箭发动机、军用密封组件、核废料、石油岩芯、计算机芯片、精密铸件与锻件、汽车轮胎、陶瓷及复合材料、海关毒品、考古化石等。我国 90 年代也已逐步把 ICT 技术用于工业无损检测领域。进入 21 世纪 ICT 更是得到了进一步发展已成为一种重要的先进无损伤检测技术。 1917 年，奥地利数学家 J.Radon 建立了由投影重建图像的数学理论，但因为缺乏有效的计算设备，无法实现具体应用；而后 1963 年美国物理学家 A.M.Cormak 教授提出计算机层析摄影理论。但是直到 1972 年，英国的 G.N.Housfield 博士将当时的理论研究成果与计算机技术相结合，并与英国保健福利部合作，共同设计开发出世界上第一部 X 射线 CT 机，CT 技术才终于取得了实质性的突破[4]。当 CT 在医学领域的应用取得成功后，很快就被应用到工业无损检测上，并发展成为 ICT。虽然在基本原理和功能上医学 CT 和工业 CT 是相同的，但因检测对象的差异，二者指标和系统结构存在较大差别。工业 CT 检测对象是工业产品，其形状、组成、储存及重量等千差万别，且测量要求不一，由此带来技术的复杂性及结构的多样化[5]。从所使用的射线源来分，工业 CT 主要分为 X 射线工业 CT 和 gamma; 射线工业 CT。工业 CT 中 X 射线能量范围通常高于医用，从数十到数百千伏，对于高密度和大尺寸物体还常采用直线加速器产生数百万电子伏的 X 射线。工业 CT 技术是一项非常复杂的多学科交叉高新技术，最初只被少数西方科技发达国家所掌握，他们封锁技术、禁止设备来限制 CT 技术在不发达国家的发展，以保持其对该技术的垄断地位；但随着我国的不断壮大，科技力量的提升以及工业、航空航天技术的不断进步，我国从 80 年代初期也开始研究工业 CT 技术，并陆续研制出工业 CT 装置，把其应用到工业生产生活实践当中。1993 年 5 月XN1300gamma;射线工业 CT 机在重庆大学 ICT 研究中心诞生，1996 年重庆大学 ICT 中心研制出完全自主知识产权的工业 CT 商品机，1998 年研制出测量用 X 射线工业 CT 机，2005年研制成功高精度测量功能的高能工业 CT 系统。工业 CT 技术经过在中国近 30 年的发展，我国拥有了自主知识产权的工业 CT 设备，打破了西方科技发达国家对该技术长时间的技术封锁，实现了工业 CT 产品的商业化，成为国家科技力量的重要技术支撑。然而，我们还是不得不承认，国产的 CT 设备在技术上如扫描速度、图像质量等方面与国外企业的高性能 CT 设备（如 BIR 公司、美国通用电器公司等）还是有一定差距。 1.1.2 USB 发展现状 伴随着科技的进步和社会的发展，计算机的外围接口也不断更新换代。传统的并行接口和串行接口RS-232在易用性(即插即用)和端口扩展等方面存在着一定的缺陷，这越来越成为通信的瓶颈，因此通用串行总线(Universal Serial Bus，简称 USB)接口也就应运而生了[8]。当 USB 设备插入时，主机侦测此设备并加载所需的驱动程式，因此使用远比 PCI 和 ISA 总线方便。USB 是 PC 体系中的一套全新的工业标准，1994 年 11 月 11 日以 Inte