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5光性矿物学
辉石类矿物的光性及其鉴别特征 一、锥光装置的特点-干涉图及成因 二、一轴晶干涉图(不同切面干涉图特点、干涉图中的光性要素的分布、成因和应用) 三、二轴晶干涉图(不同切面干涉图特点、干涉图中的光性要素的分布、成因和应用) (一)斜长石亚族(Pl) 1、种属划分 按Ab与An的含量可分为 (1)常将斜长石An含量(百分比)称为牌号:如:An30 (2)An 0-30者为酸性斜长石,An30-50中性斜长石,An50以上者基性斜长石 2、斜长石鉴定特征: (1)均属三斜晶系,晶体常呈板状、柱状晶体,火山岩中微晶多沿a轴延长,也常见它形粒状 (2)手标本上多为白色、灰白色,薄片中无色透明,有时因蚀变、风化而浑浊不清 (3)具{010}、{001}两组完全解理,交角86-870(近垂直) (4)突起低,糙面不显,折射率随An含量增多而增大 (5)Ng-Np=0.005-0.013,双折率随An增多而增大,最高干涉色I级灰-I级灰白 (6)除更长石近于平行消光外,其它均为斜消光。 (7)二轴晶,2V较大,光性可正可负 (8)常见聚片双晶和环带结构,单独的简单双晶少见 最常见的是聚片双晶(钠长石双晶)和卡-钠符合双晶 聚片双晶(钠长石双晶) 双晶结合面为(010),双晶轴⊥(010) 在正交镜下呈现明暗交替的聚片消光,相邻两单体消光位不一致。 卡钠复合双晶 在钠长石双晶中有一个双晶结合面,同时又是卡式双晶面,该面两侧的两个部分为卡式双晶关系,每一部分又是聚片双晶。 钠长石双晶:双晶结合面(010),双晶轴⊥(010) 卡式双晶:双晶结合面(010),双晶轴[010] 环带结构 由于在结晶过程中,早结晶的pl(位于中心)和晚结晶的pl(位于边缘),成分发生改变,从而从晶体中心到边缘,成分呈环带状变化,在正交镜间呈环带状消光,称环带结构,其它矿物中也能见到,尤以斜长石中最为发育,多者可达100多环。 Pl环带清晰易见者数火山岩、浅成岩中,尤其是中性斜长石,它也常称为中长石的一个重要的鉴别标志 环带可分三种类型 (1)正环带 中心An高,边缘低 (2)反环带 中心An低,边缘高 (3)韵律环带 从中心到边缘,An呈韵律性变化 5、斜长石端元组分的确定方法 (1)比较折射率的方法 An8 Ng、Np均小于1.54,两个消光位均为负突起 An 8-22 Ng正低突起,Np负低突起 An22 Ng、Np均为正低突起 (2) ⊥(010)晶带最大消光角法 原理:斜长石的光性方位随成分而变,在某一固定方向的切面上,一定的消光角与一定的成分是对应的 本方法是在⊥(010)晶带,即垂直于钠长石双晶结合面的切面上,测量Np’∧(010)最大消光角以鉴定斜长石成分,这方法比较简单和准确,所以最常用 A、晶粒选择: ⊥(010)晶带的特征是具有以(010)为结合面的钠长石双晶,特点为: (1)钠长石双晶纹最细,升降镜筒,纹线不发生左右移动,当(010)平行十字丝或在450位置时,双晶两部分亮度相等,而不显双晶 (2)可见到(010)解理,解理缝也最细,升降镜筒无位移 (3)相邻两单体对(010)结合面为对称消光(相差不大于2-30时就可使用) ⊥(010)晶带最大消光角法测量步骤 B、测量方法: (1)使双晶纹平行纵丝,记下物台读数X1 (2)转动物台,使一组单体消光,记下物台读数X2 (3)逆转物台,使另一组单体消光,记下物台读数X3 (4)计算消光角 α=( |X2-X1| +|X3-X1|)/2 X2 X3 X1 (5)检查消光时,与纵丝平行的光率体半径是否是Np’ (一般是,不是则为900- α) (6)观察Np’的突起正负:若为正突起, α取正号,反之则取负号 (7)重复以上步骤,测出若干个颗粒(10个左右),取其最大值作为⊥(010)晶带的最大消光角,记作Np’ ∧(010)=? C、查图,确定端元成分: 不足之处:同一岩石中有不同成分斜长石时,本方法不能分别测出,而只能测得最基性的一种 注意图中有高温曲线和低温曲线 (3)卡钠复合双晶法:当薄片中存在卡钠复合双晶时应用此法,优点是比较准确,而且只要一个切面复合要求的晶粒。 晶粒选择:选择具有卡钠复合双晶并⊥(010)的切面,特征是: ①当双晶纹平行十字丝时,钠长石双晶带明暗相等,钠长石双晶不显,只见双晶缝,双晶纹细而清晰;而整个切面依纵丝方向呈干涉色亮度不同(但不明显)的两个部分-卡式双晶 ②450位置时,钠长石双晶也不显,但卡式双晶更为清晰 ③卡式双晶两单体中的各单体沿(010)面对称消光,两个单体的消光角不相等 测量方法: ①置于视域中心; ②用前述方法分别测出每个单体的消光角X
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