SOC混合信号测试难题的解决策略 Solution of the SOC mixed-signal test.pdfVIP

2008年2旯 窟子测试 Feb．2008 第2期 TEsT No．2 ELEcTRONlc SOC混合信号测试难题的解决策略 谭永红 (柳州运输职业技术学院柳州545007) 摘要：缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题。本文提出在SOC嵌入式内核 测试电路中引人DFT和BIST方法。介绍了IEEEll49．4混合信号测试总线及其应用特点，讨论运用重配置的 D孵’方法和测试点插入的Dvr方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性。阐述ADC／DAC与PLL两种 电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用。为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法。 关键词：混合信号；IEEE1149．4；可测性设计；内建自测试 中图分类号：TN407文献标识码：A