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集成电路低温特性的推断 inference of the low temperature performances of ics
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集成电路低温特性的推断
宁永成
(中国航天科技集团公司第五研究院，北京 100029)
摘 要：随着极地及深空探测等领域的技术进步与发展，对IC的可工作温度范围提出了更高的要求．尤其是
低温工作范围。换言之．军用级IC一55．125℃的温度范围已不能完全满足要求。通过3种航天器已经大■使用
的通用集成电路温度特性的测试分析。以确定一种简单的、能够表征或推断IC低温工作特性的方法。
关键词：集成电路；温度特性；低温；曲线
文献标识码：A
中图分类号：TN43；TB24
InferenceoftheLow PerformancesofICs
Temperature
NING
Yong-cheng
of Electronic 100029，China)
(China ComponentsReliabilityCenter，Beijing
AcademySpaceTechnology
the ofscientificresearches and
Abstract：With such弱polarregion deepspace
progress
wider become other
with operatingtemperatureranges necessary．Inwords，
explorations．devices
witha of-550C一125。Ccannot the
the classdevices temperaturerange completelysatisfy
military
low ofthree of ICs usedin
temperatureperformancestypesgeneralwidely
requirement．The
tocharacterizeorinferthelow
weretestedand a method
simple
spaeecrafts analyzed，and
ofICs
temperatureperformancew晒presented．
characteristic；lowtemperature；curve
Keywords：IC；temperature
1 引言 超过175℃是完全可以正常工作的。后来按照
高质量等级硅单片半导体集成电路(IC)一般
逐渐定为150℃。
规定的工作温度范围为一55．125℃．但这并不表示
超过了该温度范围集成电路就不能工作。只是某些 很多半导体集成电路制造厂商为减少
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