cmos成像系统亚像元定位精度研究 sub-pixel locating accuracy for a cmos imaging system.pdfVIP

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2017-08-21 发布于上海
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cmos成像系统亚像元定位精度研究 sub-pixel locating accuracy for a cmos imaging system.pdf

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cmos成像系统亚像元定位精度研究 sub-pixel locating accuracy for a cmos imaging system

第38卷第7期光电工程 Vbl．38．No．7 2011年7月+ Opto-ElectronicEngineering July，20ll 文章编号：1003—50lX(2011)07一0069一05 CMOS成像系统亚像元定位精度研究曾桂英，解源 (集美大学信息工程学院，福建厦门361021) 摘要：本文构建了基于CMos图像传感器的高精度定位系统，并且研究光源，被测目标、测量系统与亚像元定位算法等因素对定位精度的影响。研究结果表明：光源与测量环境的稳定性是高精度测量的必要前提与关键因素；带阁值的质心算法对系统白噪声抑制能力基本相同，但对具有一定规律缓慢变化的干扰信号抗干扰能力不同，且带活动阈值的质心算法抗干扰能力最强；根据被测目标与实际误差分布规律选择合适的算法处理，是工程应用中实现高精度亚像元定位的有效保证。关键词：cM0s图像传感器；亚像元定位；定位精度；误差分析中图分类号：TP75 文献标志码：A foraCMoS Sub—pixelLocatingAccuracy ImagingSystem ZENG Yhan Gui—ying，XIE (^oD，o厂仍加门啊口ff0胛E，嘻f疗卵一，曙，撕埘Pf踟fvEr括纱，爿h口，，lE珂36102l，删肠以尸mVf础，(璩加口) meinnu即ceofthe Abstract：To shJdy light algorithrn∞the CMoS is for resultsshow sub-pixellocatingaccumcy’aimagingsystemdesi印edexperiment锄d加仃eatrIlem．111e thatthe ofthesourceandthe havenotableen．ectonthe ofmeasurements． stability meas嘶ngs岍oundings highaccufaIcy The c锄troid withathreshoIdh髂tbes锄eefIIectondenoisebmcanredllcetheinterfbrence impmvedaIg硎thln si掣m1 and w池a thI。esholdwhiletheinterferencehastlle of dramaticallyespeciallyd”amic si髓al propertysli曲tch醐ge． aJl tothereal andtheen-ordistributionisthe to the ChoosingaIgoritllIllappropriatelyaccording object keygain hi曲 in precision姐bpixellocationengineeringapplic砒ion． words：CMOS Key imagesensor；sub·pixelorientation；locatingaccumcy；erroranalysis O 引言 cMOS图像传感器由于其价格、功耗、图像质量等方面上的优势，正逐渐取代CCD图像传感器，并在相关电子产品的生产中得到了广泛的