hypermesh网络在pmc模型下的两种可诊断数 the two diagnosability of hypermesh network under the pmc model.pdfVIP
- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
hypermesh网络在pmc模型下的两种可诊断数 the two diagnosability of hypermesh network under the pmc model
口_1怯 2012年弟2,巷弟 ¨别
ElectronicSci.& Tech./Nov.15.2012
Hypermesh网络在 PMC模型下的两种可诊断数
李刚平,朱 强,郭洋洋
(西安电子科技大学 理学院,陕西 西安 710071)
摘 要 通过对元维Hypermesh网络t一可诊断性与 一可诊 断性的研究,证明了在 PMC模型下,Hypermesh网
络是n(k一1)一可诊断的(nI2,k13),且是[2n(k一1)一k]/[2n(k一1)一k]一可诊断的(n≥3,ki3)。
关键词 Hypermesh网络;可诊断数;PMC模型;悲观策略
中图分类号 TP332 文献标识码 A 文章编号 1007—7820(2012)11—001—04
ThetwoDiagnosabilityofHypermeshNetworkunderthePM C M odel
LIGangping,ZHUQiang,GUOYangyang
(SchoolofScience,XidianUniversity,Xi’an710071,China)
Abstract In thispaper.we investigatethe t-diagnosability and t/t-diagnosabilityofk-ary n—dimensional
Hypermeshnetwork,andprovethattheHypermeshnetworkisrt(一1)一diagnosableforn≥2,k13,and[2n(k—
1)一k]/[2n(k一1)一k]-diagnosablefornI3,kI3underthePMCmode1.
Keywords Hypermeshnetwork;diagnosability;PMCmodel;pessimisticstrategy
在某些实时应用系统和绝大部分高性能计算系统 一 些指定的处理器并产生 0/1的测试结果。测试结果
中,通常都需要长时间地进行高速数据运算 ,而运算的 为0时表示测试通过;测试结果为 1时表示测试没有
时间越长、运算的速度越快,系统中的处理器发生故障 通过。0和 1就是测试处理器和被测试处理器之间有
的可能性就会越大。因此多处理器系统的可诊断性是 向边的权。测试者和被测试者都可能出错 :当测试者
目前研究的热点问题 。尤其在某些场合需要系统具有 故障时可能产生的输出也就是测试结果是不确定的。
不问断的处理能力时,系统的可诊断性变得更加的重 当测试者没有故障时,测试结果是可靠的。所有测试
要。当今的社会正变得越来越依赖计算机,在一些应 结果的集合被称为系统症状 。根据系统的症状可以确
用 中,计算机系统发生故障的代价是高昂的甚至是致 定系统中哪些处理器是故障的,哪些处理器是没有故
命的。通过各种措施可以在一定程度上来避免故障, 障的。
但没有办法使得在计算机系统中不发生故障。参与运 一 些诊断模型已经被提出,例如 比较模型,PMC
算过程的哪怕只有一个处理器发生故障都会产生故障 模型等。它们是系统级诊断最常采用的两个模型。
的结果并且可能导致严重后果。然而在一个大型的多 PMC模型是在 1967年,由Prearata,Metze和 Chien首
处理器系统中,如果能及时发现故障节点,从而可以用 先提出,在这个模型下,如果两个处理器之间有连线,
非故障节点来代替它或者重新分配系统的负载,那么 它们就可以相互测试。在PMC模型中,假设测试者是
整个系统的性能就不会产生过大的影响。因此在一个 好的,那么测试结果就是可靠的。而如果测试者是故
多处理器系统中需要采取容错措施 ,使得可以自动诊 障处理器,那么无论被测试者是否有故障,测试的结果
您可能关注的文档
- 295~315nm范围内温度对so2吸收截面的定量影响 quantitative effect of temperature on the absorption cross-section of so2 in the wavelength range of 295 am to 315 am.pdf
- 300 mm立式炉温度控制系统研制 temperature control system development for 300 mm vertical furnace.pdf
- 300mhz 衰减全反射型有机聚合物电光调制器 300mhz polymer electro-optic modulators withattenuated total reflection configuration.pdf
- 300v以上硅基新型jbs肖特基二极管的制备 fabrication of silicon based novel structure jbs diode with breakdown voltage above 300 v.pdf
- 304不锈钢中晶粒团簇显微组织的特征与晶界特征分布的关系 the relationship of grain-cluster microstructure and grain boundary characteristic distribution in 304 stainless steel.pdf
- 316f不锈钢中mns夹杂的电子显微学分析 transmission electron microscopic study of mns inclusions in 316f stainless steel.pdf
- 350~470mhz的sige bicmos低噪声放大器 a 350~470mhz sige bicmos low noise amplifier.pdf
- 300mm硅片精密化学机械抛光村几何参数优化 on the improvement of prime silicon wafer geometry with 300 mm final-touch polishing machine.pdf
- 350 t高温多层真空压机的研制 design of 350 t high temperature multilayer vacuum press machine.pdf
- 410th锅炉低nox燃烧器改造及运行优化 retrofit and operation optimization of low nox burner for 410 th boiler.pdf
- h型栅soi mos作为静电保护器件的维持电压的研究 investigation on holding voltage of h-gate soi mos as esd protection device.pdf
- icf实验中靶位姿的视觉检测 visual measurement of micro-target pose in icf experiment.pdf
- ict过程造成组件板故障问题的分析和解决方法 solution of pcba problem troubles during ict.pdf
- ic卡式家用电度表设计 the design of the ic card home ammeter.pdf
- ic器件热特性评价方法研究 study on evaluation method for the heat characteristics of ic devices.pdf
- ic内置熔丝熔断方法 ic fuse blowing method.pdf
- ica的梯度下降算法框架 framework of gradient descent algorithms for ica.pdf
- id3算法在学生评教数据分析中的应用研究 application research on id3 algorithm in data analysis of student evaluation.pdf
- idf英特尔科技论坛新闻摘要.pdf
- ic外延电阻相似失效案例的比较与分析 the comparison and analysis of similar failure cases about ic epitaxial resistance.pdf
文档评论(0)