有参数约束的两两组合覆盖测试用例生成的研究.pdfVIP

第24卷第1期 苏 州 大 学 学 报(自然科学版) Vo1．24 NO．1 2008年 1月 JOURNAL OF SUZHOU UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE EDITION) Jan．2008 有参数约束的两两组合覆盖测试用例生成的研究 曾劲涛 ，陈建明 (1．苏州大学智能信息处理及应用研究所，江苏 苏州 215006； 2．井冈山学院信息科学与传媒学院，江西 吉安 343009) 摘 要：对组合覆盖测试用例生成的研究已不少见，但考虑有参数约束情况的并不多．针对有参数约束的两两 组合覆盖测试用例生成的问题，提出了一种基于IPO策略的有参数约束的两两组合覆盖测试用例生成算法， 并与经典的AETG方法作比较，实验表明该算法在某些待测软件系统上可以得到比AETG方法更小的测试集． 另外，该算法的确定性组合的特性使其在实际应用中可以更有效地降低测试成本． 关键词：软件测试；组合覆盖；测试用例；测试集；参数约束 中图分类号：TP311．53 文献标识码：A 文章编号：1000—2073(2008)O1—0045—05 0 引 言 软件系统的故障往往是由一些不可预料的系统因素及其相互作用而引起的，为了检测这些故障，必须设 计一组测试用例，对系统因素的各种组合情况进行充分覆盖的测试．文献[9]指出，有20％～40％左右的软件 故障是由某个系统参数引发的，20％～40％左右的故障是由某两个参数的相互作用引发的，而大约70％的软 件故障是由一个或两个参数的作用引起的…．两两组合覆盖测试是一种覆盖任意单个系统因素、任两个系统 因素间的组合以及尽可能多的多个因素间组合的方法．该方法能大幅度地减少测试用例的数量，从而节省测 试资源，具有很重要的应用价值 ．目前，关于两两组合覆盖测试方法的研究主要集中在测试用例生成方法 方面．例如，AETG 、IPO ‘。 和PSST 等方法．但是这些方法中大多数未考虑有参数约束的情况．事实上， 有参数约束的待测软件系统经常可见．例如，文献[6]中提到的待测试的电话系统就是一个有参数约束的系 统，文献作者就这一问题给出了一种解决方案．由于电话系统的特性，该方案能较好地解决其参数约束的问 题，但就一般的待测系统而言，其效果并不理想．针对这一现状，本文对有参数约束的情况进行了研究，并给出 了一种基于IPO策略的算法． 1 基本概念 设待测软件系统SUT(Software Under Testing)的参数个数为n，并假定每个参数P 可在有限离散点集 中取值， 中有￡ 个元素：￡ =l l(1≤i≤n)． 定义1 称 n元组(P。，P：，…，P )为SUT的一个测试用例，其中P。∈T。，P：∈T：，P ∈T (3≤i≤n)． 定义2 对某个SUT生成的测试用例的集合称为该SUT的测试用例集，简称测试集． 定义3 对于某个SUT的测试集，如果该测试集覆盖了这个 SUT的任意两个参数的所有取值的两两组 合，称该测试集为两两组合覆盖测试集． 定义4 称包含一个SUT的所有参数的部分或全部取值的关联表格为关联表． 定义5 如果一个SUT的某两个参数之间的某个取值组合存在约束，即该取值组合禁止在一个测试用例 中出现，则称该约束为二参数约束． 收稿日期：2007—8—10 基金项目：2005教育部科研重点项目(205059) 作者简介：曾劲涛(1978一)，男，江西吉安人，硕士研究生，研究方向：软件测试和软件可靠性 苏 州 大 学 学 报(自然科学版) 第24卷 2 AETG方法对有参数约束情况的解决方案 针对参数间有约束的情况，AETG采用了一种分解关联表的方法，先将原关联表分解为若干个子关联表， 并保证每个子关联表不存在参数约束；然后对每个子关联表生成相应的测试集，最后合并两个测试集，得到了 一 个两两组合覆盖测试集．例如，对一个3 型(4个3值参数)的SUT，存在一个二参数约束(0 ，0，)，图1显示 了分解的结果．根据AETG算法，先对其中一个子关联表(设子关联