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2光电器件特性参数测试技术进展.cdr.PDFVIP

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第十六届全国光学测试学术交流会 专题二:光电器件特性参数测试技术进展 专题二:光电器件特性参数测试技术进展 地点:多功能厅 Ⅲ 9月27 日 (下午) 报告 时间 报告题 目 报告人 页码 主持人 :李剑 白,江西省科学院 13 :00- 13 :20 穆勒矩阵椭偏仪及在新型光电薄膜测量应用 刘世元 73 (特邀报告) 华中科技大学 LED平板灯光学参数测试 幸芦笙等 13 :20- 13 :30 广东华南半导体光电 74 (ceshi2016-2016-0052) 研究院 数 姬琪等 参 展 硅基液晶(LCOS )在动态目标模拟装置中的应用 二 性 进 13 :30- 13 :40 中科院长春光学精密 75 题 特 术 (ceshi2016-2016-0606) 机械与物理研究所 专 件 技 器 试 电 测 光 13 :40- 13 :50 基于微倾斜狭缝的CCD成像系统MTF测试技术 康登魁等 76 (ceshi2016-2016-0242) 西安应用光学研究所 13 :50- 14 :00 基于FPGA 的高吞吐率相位计算的实现 李珊珊等 77 (ceshi2016-2016-0108) 南京理工大学 面阵光纤传像束与CCD耦合调制传递函数特性研究 何煦等 14 :00- 14 :10 中科院长春光学精密 78 (ceshi2016-2016-0614)

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