材料分析方法复习专用课件.ppt

第一章 X射线物理学基础 第一节 X射线的性质 第二节 X射线的产生及X射线谱 1、产生原理 第二章 X射线衍射方向 第一节 晶体几何学简介 第二节 布拉格方程 第三节 X射线衍射方法 第六章 宏观残余应力的测定 第一节 物体内应力的产生和分类 第二节 X射线残余应力测定的基本原理 第三节 宏观应力测定方法 第四节 X射线宏观应力测定中的一些问题 第一节 物体内应力的分类及其衍射效应 1) 第Ⅰ类内应力(?Ⅰ) 指在物体宏观体积内存在并平衡的内应力。当其被释放后，物体的宏观体积或形状将会变化。 2) 第Ⅱ类内应力(? Ⅱ) 指在数个晶粒范围内存在并平衡的内应力。这种平衡被破坏时也会出现尺寸变化。 3) 第Ⅲ类内应力(? Ⅲ) 指在若干个原子范围内存在并平衡的内应力。如各种晶体缺陷(空位、间隙原子、位错等)，这种平衡被破坏时不会产生尺寸的变化。 1) 第Ⅰ类内应力又称宏观应力或残余应力，其衍射效应使衍射线位移。 2) 第Ⅱ类内应力又称微观应力。其衍射效应主要引起衍射线线形变化。 3) 第Ⅲ类内应力又称晶格畸变应力或超微观应力等，其衍射效应使衍射强度降低。 第二节 X射线宏观应力测定的基本原理 第三节 宏观应力测定方法 由前述的测定原理可知，欲测定试样表面某确定方向的 残余应力?? = KM，需按如下步骤进行： 1) 在测定方向平面内至少测出两个不同?方位的衍射角2??? ； 2) 求出2??? - sin2?直线的斜率M； 3) 根据测试条件取应力常数K； 4) 将M和K代入?? = KM，计算残余应力?? 。 一、光分析法及其特点 4. 应用 2.2 制样方法 红外光谱的作用 (1) 可以确定化合物(尤其是有机化合物)的类别； (2) 利用基团的特征吸收频率，确定官能团： 例：—CO—，—C＝C—，—C≡C—； (3) 推测分子结构(简单化合物)； (4) 利用特征峰的强度进行定量分析。 第八章 电子光学基础 第一节 电子波与电磁透镜 光学显微镜的局限性 最小分辨距离计算公式: 式中：λ是照明束波长，α是透镜孔径半角，N 是介质相对折射率， N·sinα或N·A称为数值孔径。 对于光学显微镜，N·A的值均小于1，油浸透镜也只有1.5~1.6，而可见光的波长有限，因此，光学显微镜的分辨本领不能再次提高。 提高透镜的分辨本领：增大数值孔径是困难的和有限的，唯有寻找比可见光波长更短的光线才能解决这个问题。 要提高显微镜分辨率，关键是要有 波长短，又能聚焦成像的照明光源。 二、电子波的波长特性 电子的速度与其加速电压有关： h —— Planck 常数，等于6.626×10-34 J ·s; m ——电子质量; v —— 电子速度。 根据德·布罗意物质波的假设，即电子具有微粒性，也具有波动性。所以电子波的波长为： v 越大，λ越小。 0.00087 1000 0.00334 120 0.00487 60 0.00142 500 0.00371 100 0.00601 40 0.00251 200 0.00418 80 0.00859 20 ? / nm U / kV ? / nm U / kV ? / nm U / kV 表8-1 不同加速电压下电子波的波长(经相对论校正) 电子波波长与 加速电压的关系式 h= 6.626×10-34 J ·s e=1.602×10-19 C m =9.1×10-31 kg 改变线圈中的励磁电流可很方便地控制电磁透镜的焦距和放大倍数。 区别于光学玻璃透镜的一个特点： 电磁透镜是变焦距或变倍率的会聚透镜 三、电磁透镜 透射电子显微镜中利用磁场使电子波聚焦成像的装置。 第二节 电磁透镜的像差与分辨率 控制电子束的运动在电子光学领域中主要使用电磁透镜装置。 像差分类 几何像差 色差 球差 像散 一、像差 ：由于透镜磁场几何形状上 的缺陷而造成的像差。 ：由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变 而造成的像差。 电磁透镜也存在缺陷，使得实际分辨距离远小于理论分辨距离，在成像时会产生像差。 （1）衍射效应对分辨本领的影响 由衍射效应所限定的分辨率在理论上可由瑞利公式计算，即： (λ是照明束波长，α是透镜孔径半角，N 是介质相对折射率，N·sinα称为数值孔径。) 若只考虑衍射效应，在照明光源和介质一定的条件下，孔径半角越大，透镜的分辨本领越高！ 二、分辨率 衍射效应 透镜的像差 由于电子透镜只有会聚透镜，没有发散透镜，所以球差?rS是限制透镜分辨率的最主要因素。 光学透镜已经可以采用凸透镜和凹透镜的组合等办法来矫正像差，使之对分辨本领的影响远远小于衍射效应