海底原位X荧光探针的分析水分效应及校正技术研究.pdfVIP

摘要 海底原位X荧光探针分析的水分效应及校正技术 研究 作者简介：张永涛，男，1986年3月出生，师从成都理．Y-大学赖万昌教授， 2011年6月毕业于成都理工大学核技术及应用专业，获得工学硕士学位。 摘 要 本论文来源于国家“863计划项目：“海底原位X射线探针分析系统研制 (2006AA092219)。 本文以自己配置的铜样品和鞍山钢铁厂铁精矿、尾矿为测量对象，采用X 射线管激发的便携式X射线荧光分析仪，开展样品内部含水量的变化以及探测 器探窗与样品之间水层厚度的变化对初级X射线和特征X射线的强度及散射峰 影响的研究及校正。本文研究的水分效应分为两个方面，一部分为样品内部水分 对；另一方面为样品外部水分(仪器探窗与样品之间的水分)对目标元素特征X 射线的吸收和对相干和非相干散射射线的增强影响。本论文通过理论和实验数据 分析，对有水分存在X射线荧光测得的谱线中的信息进行提取与演算，实现对 由水分引入的影响进行校正，为X射线荧光分析的海底应用进行理论上的研究。 本文取得的主要成果有： 1．建立了以散射射线强度确定样品外水层厚度的数理方程，为定量校正水 分的影响奠定了理论基础。 2．通过实验得出特征X射线及初级射线的散射射线随水分变化的规律： (1)特征X射线强度随着样品内部水分的增加而逐渐减弱，当水分达到一 定程度变化曲线趋于稳定。 (2)特征X射线强度随样品外层水层厚度的增加按指数衰减，散射射线强 度随水层厚度增加而增加，最后趋于不变。 3．实验结果表明： (1)通过校正样品内水含量对目标元素的特征x射线强度影响后，校正后 Fe、Cu特征x射线计数与不含水样品元素的特征X射线计数之间的相对误差在 10％以内。 (2)对于Cu元素当水层厚度小于3mm，对于Fe元素当水层厚度小于2mm， 本文的校正模型均能有效的校正水层厚度对Cu、Fe元素特征X射线强度的影响。 (3)通过校正水层厚度对目标元素的特征X射线强度影响后，对于Cu元 素当水层厚度在0～3mm变化，对于Fe元素当水层厚度在0～2mm变化时，校正 后Fe、Cu元素特征X射线计数与无水层情况元素特征X射线计数之间的相对误 成都理工大学硕士论文 差基本上在10％以内。 可见经过对样品内部水分和样品外部水层厚度的校正之后可有效的克服水 分效应的影响。 关键词：海底X荧光分析水分效应校正 Abst旧ct for influenceandcorrection Format on Thesis Description Study in XRFan moistureseabedonin--situ alysis bomin 986 Introductionofthe March,1 author：ZhangYong-tao，male，was ProfessorLai from of whosetutorWas University graduatedChengdu Wan—chang．He ini