郭永康光学ch3-6.ppt

CH 3-6 负折射率介质 mediums with negative refractive index 单晶硅背景中六角（又叫三角）排列着圆柱形空气柱 相邻空气柱之间的距离即为晶格常数a=196.2nm。 单晶硅的介电常数?=11.7，即折射率n=3.42 空气柱的半径r=0.39a=76.5nm 在波长为632.8nm的可见光波段有明显负折射现象 黄光波段负折射率材料的 “渔网结构” 高指向性的天线—通讯系统，如手机 完美透镜—超高分辨率，高密度近场光存储 高性能低价格的磁共振成像设备 电磁波隐身——国防 采用纳米导线可能研制成光波波段的人工负折射率介质，制造出更多高性能的新型光子器件 第三章作业 3.4 3.5 3.7 3.10 3.15 * 一、什么是负折射率介质（左手性介质） 介质的折射率定义： 对一般电介质而言，ε和μ都是非负的常数，故n0 其电场、磁场和波矢三者构成右手关系，称为右手性介质 光、微波等电磁波在这些常规介质中的折射遵循Snell定律 1967年/1968年，前苏联物理学家V. G. Veselago在理论上预言了负折射率介质（其ε和μ同时小于零，n0 ）的存在，在这种介质中电场、磁场和波矢构成左手关系，故负折射率介质也称左手性介质 一直以来未在自然界的已知材料中观察到负折射率现象（n0 ） 2001年加州大学圣地亚哥分校的David Smith等人利用人工合成材料首次制造出在微波波段具有负ε 、负μ的物质，并观察到了其中的反常折射现象，获得广泛关注 二、负折射率介质的异常传播性质 1. 负折射现象 常规材料：介质一和介质二均为右手性介质(ε0，μ0，n0)，折射光线方向由4给出, 满足折射定律 若介质二改为负折射率介质 (ε0，μ0, n0), 则折射光线方向由3给出：与入射光线1位于法线同侧，且方向与斯涅耳定律的预期方向相反，折射角大小仍由斯涅耳定律确定，且波矢k的方向与s相反 －光线的“负折射” 2. 反常成像透镜 用左手性介质制作的透镜与普通玻璃透镜相比有完全相反的效果 用左手材料制作的凸透镜对光线有发散作用(相当于通常的凹透镜) 凹透镜对光线有汇聚作用（相当于通常的凸透镜） 用左手性介质制作的平板则具有成像功能。 3. 逆多普勒效应 左手性介质中波矢k的方向与光线的传播方向相反，与右手性介质相比将呈现相反的多普勒效应。 如果探测器向着光源运动： 右手性介质：探测到的频率增高 左手性介质：探测到的频率降低 如果探测器远离光源运动： 右手性介质：探测到的频率降低 左手性介质：探测到的频率增高 三、负折射率介质的人工制备及实验证明 自然界中并不存在左手性介质，只有人工合成来制备这种材料 用于产生负磁导率的开环金属谐振器 负折射率介质有两个方面的要求，即ε0和μ0 负的介电常数由二维长金属导线阵列（ALMWs）结构获得 人工构造的负折射率介质样品 样品单元尺寸为5ｍｍ，整体厚度1.2cm 负折射率介质“棱镜” 入射微波源(10.5GHz, 2.8cm) 常规折射波方向(按n＞0) 常规右手材料出射功率峰值发生在27°处, n=1.4±0.1 负折射率介质,峰值发生在大约-61°处，对应n=-2.7±0.1 在光子晶体中已实现了光学频段的负折射 光子晶体—折射率周期（波长量级）调制的光学介质， 存在光子带隙，类似于电子之于半导体 X Z （a）结构示意图（b）扫描电子显微镜拍摄的金属结构俯视图 Opt.Lett.,2009,34(22): 3478-3480 四、负折射率介质的潜在应用 *