侧墙技术在相变存储器中应用.pdfVIP

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加工、测量与设备 and Processing,MeasurementEquipment 侧墙技术在相变存储器中的应用 付英春 ,王晓峰, 张加勇,徐晓娜,马慧莉,季 安,杨富华 (中国科学院半导体研究所半导体集成技术工程研发中心,北京100083) randomaccess 摘要:从相变存储器(phasechange memory,PCRAM)的基本结构和工作原理 出发,首先介绍了PCRAM的技术优势、面t临的技术挑战、常用的解决策略以及存在的相应问 题;接着阐述了在微电子加工中广泛应用的关键工艺——侧墙技术.并将其在PCRAM中的应 用成果进行了分类;然后从加热电极的制备、相变材料限制结构的制备、新相变材料的制备与表 征和器件间互联等4个方面展开叙述;最后展望了该技术在相变存储领域应用发展的趋势。侧墙 技术因其具备自对准的特点,制备工艺可控性好,制备精度不依赖于光刻精度,在纳米技术飞速 发展的今天,侧墙技术将会在更高精度上发挥其作用。 关键词:侧墙;相变存储器(PCRAM);纳米技术;Ge2Sh2Te5;微纳加工 ofthe inthePCRAM ApplicationSpacerTechnology Fu Xiaona, Yingchun,Wang Xiaofeng,ZhangJiayong,Xu Ma Fuhua Huili,Ji An,Yang ResearchCenterSemiconductor (Engineering for IntegratedTechnology, Institute o,Semiconductors,Chinese 100083,China) AcademyofSciences.BeOing tOthebasicstructureand ofthe randomac— Abstract:According workingprinciplephasechange eess technical solution and memory(PCRAM),theadvantageschallenges。common strategies relativelimitsofthe introduced PCRAMare isdescribed,it firstly.Then,thespacertechnology isthe whichis usedinmicroelectronics the ofthe keyprocess fabrication,and widely applications PCRAM fabrica

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