磁控溅射低温制备ZnOAl透明导电薄膜及其特性研究.pdfVIP

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磁控溅射低温制备ZnO:AI透明导 电薄膜及其特性研究 王 涛o① 刁训刚① 丁 茺① 舒远杰② 武 哲@ (①北京航空航天大学理学院,北京100083;②中国工程物理研究院化工材料研究所, 四川,绵阳621900;③北京航空航天大学航空科学与技术学院,北京100083) 摘 要:采用锌铝(2%)合金靶,保持真空腔在50℃低温下,运用直流反应磁控 微镜(SEM)、分光光度计、半导体霍尔测试、红外发射率测试仪等手段对薄膜进 行了表征。薄膜呈C轴择优取向的六角纤锌矿结构;具有致密平滑的表面形貌; 8~ 最佳工艺下样品在550nto波长处透过率达93%;最低电阻率为4.99×10_4Q·cml 149m波段平均红外发射率在0.3~O.54之间。分析了溅射过程中氧流量百分比和 功率对上述特性的影响及各特性间的关系,讨论了薄膜在8~149m波段平均红外 发射率与其方块电阻的关系。 关键词:ZAO膜;低温;磁控溅射;红外发射 and of ConductiveZnO:AIFilms PreparationPropertiesTransparent DC atLowSubstrate by MagnetronSputtering Temperature Taoo①Diao Shu ieoWuZheo Wang Xungang①DingPeng① Yuanj of of (①SchoolScience,BeijingUniversity 100083; ofChemical ofAeronautic ②Institute 621900;③School Materials,CAEP,Mianyang,Sichuan Science of and 100083) Technology,BeijingUniversity zinc were oxide(ZnO:A1)films Abstract:Aluminium-doped preparedby D.C.reactive on substratefroma magnetronsputteringglass alloytarget(Zn:Al 2%).The chamberwas at50。C.The mor— sputtering kept crystallinity,surface andelectrical andinfrared in ofthe phology.opticalproperties emissivity 8~14pm films werecharacterized

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