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光栅信号直流电平自动校正 　　摘 要： 在圆光栅作为分度基准的高精度测量仪器中，测量信号的稳定性直接影响到最终的测量精度。针对实际光栅信号不稳定性产生直流电平漂移的情况，在电子细分的基础上，采用了A/D和D/A转换器实时校正直流电平的方法，解决了实际光栅信号的直流电平漂移影响处理器计数的问题，降低了测量误差。此方法主要由软件编程来实现，硬件电路设计简单，电路的复杂程度低，有利于提高测量精度。 关键词： 光栅； 直流电平； 漂移； A/D和D/A转换器； 校正 中图分类号： TN911.7?34； TB96 文献标识码： A 文章编号： 1004?373X（2014）05?0067?03 0 引 言 光栅作为一种精密的测量工具，广泛应用于精密仪器、坐标测量、精确定位、高精度加工等领域[1]。光栅测量技术是集光、机、电于一体的数字位移传感技术，它采用光电转换可将机械位置信息转换成相应的数字信号输出[2]。圆光栅测角系统中，光栅度盘的标尺光栅和指示光栅组成光栅副，而测角系统就是以光栅副发生相对转动时产生的明暗相间的莫尔条纹为基础的。明暗相间的莫尔条纹随着光栅的移动会产生类似于正弦信号的光强变化，对此信号进行一系列的处理，即可获得光栅的相对移动量[3?5]。然而在实际的测量中受工艺和成本的限制，由光栅信号产生的正弦信号往往会发生直流漂移，这会给测量精度带来较大误差。消除信号中直流电平的方法很多，比如机械式调整法，包括调整硅光电池的受光面积，改变推广电池和光源的相对位置等[6]。很多设计中采用差分放大电路来消除信号中的直流分量[7?8]。此外，文献[2]中还提到在调理电路中设置高通滤波器来滤除直流分量。本文就此问题利用A/D和D/A转换器，对源光栅信号的直流漂移进行实时校正，并将校正后的电平作为比较器的基准电压，使比较器输出更加精准的计数信号。此方法避免了繁杂的调节，并且不会增加硬件电路的复杂程度，结构简单易于实现，对提高光栅的测量精度具有非常重要的实用价值。 1 系统总体设计 光栅计量系统由光栅光学系统信号采集电路和信号处理电路两部分组成，其基本工作原理是：被测光栅盘和基准光栅盘每转过一条栅线，它们各自都会产生一个完整的正弦（余弦）信号，经过差分、放大、整形，送到控制器进一步处理，系统原理框图如图1所示。 当指示光栅相对于标尺光栅发生位移时，会产生明暗相间的莫尔条纹，把光电传感器放在不同位置可以得到相位相差90°的正余弦信号，正余弦信号分别用作计数信号和辨向信号。假设正弦信号作为计数信号，余弦信号作为辨向信号，当余弦超前正弦90°时光栅计数器做累加计算，当余弦滞后正弦90°时光栅计数器做累减运算，这两路信号经过比较器整形成方波，送给处理器细分、计数和辨向，正余弦信号如图2所示。 比较器整形是提取正余弦的直流分量作为基准比较电压，实际上由于制造工艺，机械结构以及光路稳定性等各种原因，光栅信号的直流电平经常发生偏移，如果不及时测量直流分量，系统的测量精度就会大大降低。针对这种情况，本设计在电路中加入了直流电平校正模块，通过处理器计算获得信号的直流电平，并将此电平由D/A反馈给比较器作为比较器的基准比较电压，使比较器输出更准确的计数信号。加入校正模块能有效避免计数脉冲产生延时和遗漏的情况，这样就基本解决了直流电平漂移影响处理器计数的问题。 信号送到处理器后，需要经过一系列处理，其中重要的一环就是对类似于正弦波的电信号进行细分。细分方法可分为光学细分、机械细分和电子细分三大类，光学细分、机械细分是通过硬件来实现的，提高细分精度会使硬件电路变得更加复杂。而电子学细分可利用软件编程实现，大大降低了硬件电路的复杂程度，并且具有读数快、精度高，易于实现测量和数据处理过程的自动化等优点，因而得到了广泛的应用[9?10]。本文采用了电子细分的方法对比较器输出的信号进行细分。 2 硬件电路设计 本系统的硬件电路设计中的处理器选用含有内置D/A和A/D的SMTM32F103。STM32拥有先进的性能，基于集成嵌入式FLASH和SRAM存储器的ARM Cortex?M3内核，和8/16位设备相比，ARM Cortex?M3 32位RISC处理器提供了更高的代码效率，在高性能的同时拥有低功耗和大集成度等优点。 硬件电路设计原理：光源发出光，当度盘相对指示光栅发生转动时，透过大小光栅的光产生明暗交替的变化，各个位置的光电传感器将光信号转换为电信号，单个电信号接近正、余弦信号。为了防止直流电平对后级电路的影响，同时为了增大正、余弦信号的共模抑制比，将它们接入差分放大电路，并设置合适的参数将信号放大到合适的范围。此时将信号分为两路，一路送往比较器，而另一路送到处理器的A/D口，由处理器计