正电子谱学技术在功能材料微结构表征中地应用.PDFVIP

中国科学: 物理学 力学 天文学 2012 年 第42 卷 第11 期: 1217– 1225 SCIENTIA SINICA Physica, Mechanica Astronomica SCIENCE CHINA PRESS 中国科学技术大学物理学院专刊 论文 · 正电子谱学技术在功能材料微结构表征中的应用 张礼红, 成斌, 张杰, 张丽娟, 郭卫锋, 刘建党, 张礼楠, 叶邦角* 中国科学技术大学近代物理系, 合肥230026 *联系人, E-mail: bjye @ 收稿日期: 2012-07-18; 接受日期: 2012-09-28; 网络出版日期: 2012-10-25 国家自然科学基金资助项目(批准号: 摘要 特殊功能材料是一些具有优良电学、磁学、光学、热学、声学、力学、化学、生物医学功能, 在 各类高科技领域得到广泛的应用. 正电子湮没技术是一种对材料微结构特别有效的探测技术, 特别是对 各种缺陷、空位和微孔尤为灵敏, 通过正电子湮没寿命谱、多普勒展宽谱和慢正电子束技术, 通过分析 正电子湮没参数可以获得材料从表面到内部的缺陷分布信息和随外部物理和化学条件变化的、引起的微 结构变化. 本文选取几种特殊材料的正电子湮没实验结果来分析材料内部微结构, 表明正电子湮没谱学 是一种独特的研究微观结构的方法. 关键词 正电子谱学, 微结构, 功能材料, 缺陷 PACS: 78.70.Bj, 82.45.Cc, 81.07.De, 75.50.Dd, 77.84.Dy doi: 10.1360/132012-640 自从1932 年Anderson 发现正电子后, 人们就开 测, 支持原位检测和实验条件的改变; 对低原子密度 始将正电子用于固体物理和材料科学方面的研究, 区域和缺陷区域具有选择性, 对缺陷浓度的灵敏度 6 这种把核物理和核技术应用于固体物理和材料科学 可达 10 ; 反映的是纳米尺寸的局域信息, 对纳米尺 研究的技术称正电子湮没技术(Position Annihilation 度结构与缺陷极其灵敏, 是探测微观缺陷、界面和自 Technique, PAT)或正电子湮没谱学(Positron Annihil- 由体积的灵敏探针. 功能材料具有特殊的“功能性”, ation Spectroscopy, PAS). 正电子湮灭技术主要是通 为了得到性能不同的功能材料, 实现材料设计, 必须 过正电子探针在材料中与电子发生湮灭, 通过探测 进行深入的基础研究, 了解物质结构与性能的关系, 器探测到湮灭所产生光子的不同信息, 从而得到材 建立正确的物理模型, 可以指导开发更先进的功能 料中的电子体系的信息, 继而达到研究材料微观结 材料. 正电子探针通过对功能材料中的点阵缺陷, 间 构的目的. 隙原子、空位、空位团、自由体积、纳米孔洞结构、 正电子技术在研究物质微结构时与其他方法相 官能团、骨架组成与结构、表面、界面等进行研究表 比具有自己鲜明的特色: 正电子研究的是物质电子 针材料的微结构信息, 通过微结构与材料特性的关 体系, 对样品无特殊要求; 正电子探针是一种无损验 系, 可以对材料的各种物理特性进行研究. 引用格式: 张礼红, 成斌, 张杰, 等. 正电子谱学技术在功能材料微结构表征中的应用. 中国科学: 物理学 力学 天文学, 2012, 42: 1217– 1225