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自动检测技术重点
测量:以确定量值为目的的一种操作。
检验:只需分辨出被测参数的量值是否归属某一范围带,从而判别被测参数是否合格、现象是否存在等。
自动检测:在自动化领域中,需要对某些重要参数进行实时、自动的测量、检验。这类无需人手工操作而自动完成的检测。自动检测技术的核心是如何将各种非电量转换为电信号,通过对该电信号的测量来检测原非电量,常称之为非电量检测技术。
自动检测系统的基本组成:1.传感器(信号的获得)。敏感元件是指传感器中直接感受被测量的部分,传感元件是指能将敏感元件的输出转换为电信号的部分。2.测量电路(信号调理器)。3.计算机(数据处理装置)。4.输出环节。
按测量手续分类:直接测量、间接测量、联立测量;测量方式分:偏差式测量、零位式测量、微差式测量;敏感元件是否与被测介质接触:接触式测量、非接触式测量;被测量变化快慢:静态测量、动态测量;测量系统是否向被测对象施加能量:主动式测量、被动式测量;被测量是否是在生产进行的实际过程中被测:在线测量、离线测量。
零基直线的特点是通过理论零点并保证最大偏差最小。以最小二乘直线作理论直线的特点是各校准点上的偏差的平方之和最小。
测量误差:由于检测系统不可能绝对精确、测量原理的局限、测量方法的不尽完善、环境因素和外界干扰的存在、以及测量过程可能会影响被测对象的原有状态等,使得测量结果不能准确地反映被测量的真值而存在偏差。
系统误差是指具有某种确定性规律的测量误差。具有这种特性的误差通常是由为数不多的确定性原因造成的。随机误差是指具有随机变化特性的测量误差。这种误差在人们进行次数不多的重复测量时表现为忽大忽小、忽正忽负,似乎无规律可循;但随着重复测量次数的增多,这种误差将服从数理统计规律,以正态分布规律最为多见。如果某次测量结果明显偏离真实值,则称该次测量包含粗大误差。它是由于异常情况出现或测量人员疏忽大意而引起的。重复测量中出现的粗大误差,应作为异常值除掉,不参与测量结果精度的评价,因而用于评价测量精度的误差只有系统误差和随机误差。
实验比对法又可分为标准器件法和标准仪器法两种。以电阻的测量为例,标准器件法就是利用待进行系统误差评定的检测仪器对高精度精密标准电阻器(其值作为约定真值)进行重复多次测量。若测量值与标淮电阻器的阻值的差值大小均稳定不变,即可判定该仪器含恒值系统误差,该差值即可作为此检测仪器在该示值点的系统误差值。其相反数,即为此测量点的修正值。标准仪器法就是把精度等级高于被检定仪器两档以上的同类高精度仪器作为近似没有误差的标准仪表,与被检定检测仪器同时、或依次对被测对象(本例为在被检定检测仪器测量范围内的电阻器)进行重复测量,把标准表示值视为相对真值,如果被检定检测仪器示值与标准表示值之差大小稳定不变,就可判定该仪器含恒值系统误差,将该差值作为此检测仪器在该示值点的系统误差,该差值的相反数即为此检测仪器在此点的修正值。
有界性。即各个随机误差的绝对值均不超过一定的界限。单峰性。即绝对值小的随机误差总要比绝对值(幅度)大的随机误差出现的概率大。对称性。等值而符号相反的随机误差出现的概率接近相等。抵偿性。当等精度重复测量次数n∞时,所有测量值的随机误差的代数和为零。
电阻应变片基于金属材料的应变效应。导体材料在受到力的作用时,产生机械变形,其阻值随之发生变化,这种因形变而使其阻值发生变化的现象称为电阻应变效应。半导体材料受到应力作用时,其电阻率会发生变化,这种现象称为“压阻效应”。
依据半导体的压阻效应,制成两类传感器。一类是利用半导体材料的体电阻制成粘贴式应变片,制作成半导体应变式传感器。另一类是在半导体材料的基片上用集成电路工艺制成扩散电阻,作为测量传感元件,亦称扩散型压阻式传感器。
压阻式传感器的优点是:①灵敏度非常高,有时传感器的输出不需放大可直接用于测量;②分辨率高,测压力时可测10Pa至20Pa的微压;③元件有效面积可做得很小,故频率响应高;④可测量低频加速度与直线加速度。压阻式传感器的最大缺点是温度误差较大。
烧结型二氧化锡气敏元件是表面电阻控制气敏元件。半导瓷材料二氧化锡属于N型半导体,这类半导体瓷气敏电阻元件工作时通常都需要加热。元件在加热开始时阻值急剧地下降,然后上升,一般经过2-10分钟稳定,称之为初始稳定状态,元件只有达到初始稳定状态以后才可用于气体检测。元件在“清洁大气”中因吸附的氧气量固定不变,所以阻值保持一定。一旦某种浓度被测气体流过元件,则在元件表面产生吸附,元件阻值将随气体浓度变化而变化。如果被测气体是氧化性气体,被吸附气体分子从气敏元件夺取电子,使N型半导体元件中载流子电子减少,因而电阻值增大;如果被测气体为还原性气体,气体分子向气敏元件释放电子,是元件中载流子电子增多,因而电阻值下降。
自感式传感器亦称变隙式自感传感器或变磁阻式自感传感器,根据铁
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