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脉冲硬X射线测量技术研究 王宝慧 孙凤荣 黑东炜 (西J撇技术研究所二室西安市.x:号信箱12;洲箱 710024) 摘 要 涟波荧光法是脉冲硬x射线的测2方法之一 它通过对透过滤波片照射在荧光体 上而产生的x荧光的nti，来诊断脉冲x光源的能谱和时间性。我们经过精心的选择滤彼片和 荧光体的材料和厚度尺寸，选用廉价的剂t片作探侧器组成了能谱侧f系统.由于剂盆片是非 时间性侧量，在测里系统中又采取了散射法。用PIN探测器对光潭进行时间性测t，从而完成 对脉冲硬X射线光源的诊断。 对于能2大大高于元素材料的吸收限的硬x射线，采用了超过滤波荧光法来加以侧ti。本 测试系统具有制作费用低、体积小、抗电磁干扰等特点。 关键词 X射线测谧 滤波荧光法 散射法 、前言 国外许多机构在进行聚变、激光等离子体等研究中，开展了一部分硬艺射线 测量工作。欧洲JET装置上建立了测里硬x射线的系统，研究逃逸电子的效应， 美国LLNL等机构在开展激光打靶等离子体研究时，利用硬x射线研究超热电子的 现象.国内尚未见有关工作的报导.近两年本所引进了 “断”辐射模拟源，该装 置的重要辐射输出之一就是硬x射线，我们针对它开展了弱脉冲硬x射线测量方 法和技术的研究，并研制出精确测量20-100keV硬x射线剂量、能谱、时间波形 等参数的测量系统。它也可以用来测量不同能谱、不同持续时间的辐射脉冲。 2、测试原理 卜J. 设备产生的脉冲射线中，7k线的辐射强度大于x射线的，这样测量x射线的 探头不处于直照光路上的测量方法是较理想的。所以采用滤波荧光法和超高滤波 荧光法来测量x射线源的能谱，用散射法测量x射线的时间波形。 2.1,滤波荧光法 原理光路图如下，设源的辐射强度为By,.荧光体上的光谱照度为Ex，则有: Ex=BxXSi/L(尔格/平方厘米) (1)馋 s~一 ! 门 州 习 月 习 门 王宝慧孙风荣黑东炜:脉冲硬x射线测全技术研究 J 门 月 J