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单片机在YB3113数字IC测试仪中的应用 吕华平 张炳华 (江苏扬中电子仪筋厂 212200) 关健词 Ic 侧试向盆 侧试图形 翻试典 一、引言 数字 IC及其技术以其信息量大、发展快和渗透力强而成为当前最具影响力的技术。 它己成为我国科学技术发展的重要因素，数字IC测试仪也伴随着Ic的发展而发展，并对 数字Ic的进步和应用作出巨大贡献。 二、测试原理 YB3113数字Ic测试仪以单片机为核心，配合丰富的控制程序和外围扩展电路来全面 模拟被测器件的综合功能。即在单片机的控制下，通过程序生成所播的测试集，并存储于 侧试仪的高速缓冲存储器中，并以测试集的愉出图形部分为标准，逐拍与被测拍出的响应 进行比较，从而判断被测Ic芯片的好坏。其原理框图如图1, 不完全一致 例如:由图2所示74LS08芯片是由四个独立的2输入与门构成的。我们不难列出其 单个与门的逻辑真值表，如表1所示。考虑其八个输入的情况，则总共可形成256种不同 的渊试图形，对应其测试集如表2。由单片机控制分别输出256种不同的测试向f至被侧 芯片的输入端，并且分别读取该芯片对应的256种输出响应作为该芯片测试集，保存到相 应的内存单元，再通过与标准的洲试集相比较，即可判断该芯片的好坏。在程序设计时， 在确保一定的测试可接受的前提下，可将一个较长的侧试集进行压缩，设计为一个较小的 测试集，这不仅节省了存储容且，而且加快了测试速度。 14YccA2B2 Q2A3 83 Q3 8 输 出 。入 } 人 Q ) 0 〕 1 1 0 0 1 一 图2 74LS08引脚原理图 表1 74LS08逻辑真值表 308 表2 74LS08测试集 测试向童 测试响应 B3 A3 B2 A2 B1 A1 BO AO Q3 Q2 Q1 QO 测试图形王 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 测试图形2 一 0 0 0 0 } 0 0 0 0 0 0 0 1 测试图形3 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 洲试图形4 } 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 创JI试图形5 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 洲试图形255 1 1 1 1 1 1 1 0 }11 1 1 0 铡试图形25