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第 卷 第 期 低 温 物 理 学 报 !
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年 月 +,-(./.0123(4516517 8.9:.34823.:,;/-+/ !
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超导薄膜表面电阻测试方法及误差分析
张 旭 周铁戈 孙冬艳 何 明
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方 兰 阎少林
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南开大学电子科学系! 天津 =)))*
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本文介绍一种蓝宝石加载单端短路谐振腔测量高温超导薄膜的方法!并对测量误差进
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行了较详细的分析 造成测量误差的主要因素有三个系统无载品质因数 的测量误差!
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超导薄膜以外损耗品质因数 的实验误差!以及在谐振腔内超导薄膜的几何参数 的
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计算误差 大量的实验结果表明!本方法操作简便!重复性好!测量精度高!相对测量误差不
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超过 *)c’
关键词!介质谐振腔!高温超导薄膜!微波表面电阻
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*引 言
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随着高温超导技术的发展!高温超导薄膜在无线通信#量子计算方面应用日益广泛 大
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面积超导薄膜逐步实现商品化#产业化 微波表面电阻是衡量超导薄膜特性好坏的重要指标
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之一 对于超导薄膜的制备及其在无源器件$滤波器#谐振器等%上的应用!高温超导薄膜表
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面电阻的精确测量是非常重要的* ! 现有的测量方法中!介质谐振器法是公认较好的测量
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方法 国际上正在制定基于双端短路介质谐振器 的表面电阻国际测试标准 这种装置的测
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量精度较高!重复性较好!但是操作过程复杂!测试装置输入输出端耦合的一致性很难调整!
同时测量结果只能是两片超导薄膜的表面电阻平均值 据我们所知!超导薄膜表面电阻的国
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际标准测试误差小于 我们提出了一种单端短路加载介质谐振腔高温超导
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