双腔速调管的离子噪声模拟研究.pdfVIP

双腔速调管的离子噪声模拟 巩华荣1宫玉彬1魏彦玉1唐昌建2王文祥1 (1．电子科技大学物理电子学院，四川成都6100542．四川大学应用物理学院，四川成都610064) 摘要：采用粒子模拟的方法，首次直接得到了速调管输出信号的离子噪声图像，阐述了束电子、离子、电 磁场间之间的相互作用的动力学过程。指出离子噪声所表现出来的相位波动是由电子束速度的波动引起的， 电子束速度的变化来源于管内离子数量的变化，离子的数量的变化又与电子束状态变化相互影响，始终处 于不断的调整中，这是离子噪声产生的根本原因。 关键词： 离子噪声速调管粒子模拟电子束 中图分类号：TN422：0463文献标识码：A 离子噪声是困扰微波管合格率提高的一个重要原因，虽然自微波管诞生不久，就已经意 识到这一问题【l，2】，虽然到目前为止，大多数的研究者都认为离子噪声起源于管内残余气体 被电子束电离后，离子被管内电子束起伏形成的静电势阱俘获和逃逸所造成的输出信号幅度 和相位(特别是相位)的波动【3．6】，但具体的物理过程并不清楚，没有形成相对完善、统一 的理论描述。 本文采用粒子模拟软件OOPIC，考虑电子束，离子，二次电子与高频场及其相互作用， 对速调管离子噪声进行二维的全电磁模拟，首次直接得到了微波管输出信号的离子噪声图 像，建立了离子噪声的动力学全过程并分析了离子噪声的产生机制。 1模拟模型 我们的模拟对象是一只双腔速调管，与计算离子噪声相关主要工作参数如表一 表一双腔速调管主要工作参数 Table1Themain ofthe parameterklystron 离子噪声的一个主要特点是其频率较低，在几KHz一几MHz左右，为了减少计算量，我 们取的管内气压数值较高，这样离子噪声频率较高。同时，设计短的微波管腔体，以减少不 必要的计算区域，同样也可降低计算负担。管子内的残余气体种类为氢气【5】，速调管的输 入信号为单频信号。 2模拟结果 有背景气体填充的情况下，我们对上述参数的速调管进行了模拟。在模拟过程中，我们记录 了管内各种粒子的数量和动能以及输出腔的输出信号。 2．1管内粒子数量的变化 管内电子束电子、离子的数量随时间的变化如图1所示 基金项目：国家自然科学基金资助课题60271001)，教育部新世纪优秀人才支持计划支持 作者简介：巩牛荣(1977--)男，博士研究生，研究方向为电磁计算与仿真：Elmail：hrgong@163．COm。 509 轻 重 专 罨 T／s Particlenumbervariationwithtim Particlemeankinetic fluctuationwithtime Fig．1 Fig．2 energy 图1管内粒子数量随时间的变化图2粒子平均动能随时问的变化 电子束电子数量出现了低频的波动。在我们的模拟过程中，并没有发现束电子被管壁 截获，那么束电子数量的增加与减少就意味着电子束传输速度的增大与减小。 离子的数量也随时间产生了波动。管内的离子数量约为电子数量的一半到三分之二，中 和程度较高。在电子束电子数量发生显著变化处，离子数量的变化速度较大，对应于离子数 目突然减小与增大的过程。 2．2管内粒子的平均动能变化 电子束电子的动能随时间的变化而产生了波动，束电子动能的频率较高的变化对应于 高频的电磁场变化，是由电子束群聚引起的，而动能的低频的变化对应于离子噪声。与图1 相比较，可以发现束电子动能变化