龋病的诊断与鉴别.docVIP

精品论文 参考文献 龋病的诊断与鉴别 赵国强 （大兴安岭中西医结合医院 165000） 【中图分类号】R781.1【文献标识码】A【文章编号】1672-5085（2012）30-0153-02 【摘要】 目的 讨论讨论龋病的诊断与鉴别。方法 根据患者临床表现进行诊断并鉴别。结论 浅龋位于牙冠部时，一般均为釉质龋或早期釉质龋，但若发生于牙颈部时，则是牙骨质龋和(或)牙本质龋，亦有一开始就是牙本质龋者。当龋病进展到牙本质时，由于牙本质中所含无机物较釉质少，而有机物较多，在构造上又有很多小管，有利地细菌入侵，因此龋病进展较快，容易形成龋洞。牙本质因脱矿而软化，随色素侵入而变色，呈黄褐或深褐色，同时出现主观症状。 【关键词】龋病 诊断 鉴别 (一)诊断方法 1.视诊 观察牙面有无黑褐色改变或失去光泽的白垩色的斑点，有无腔洞形成。当怀疑有邻面龋时，可从面观察邻近的边缘嵴有无变暗的黑晕出现。 2.探诊 利用尖头探针探测龋损部位有无粗糙、钩拉或插入的感染。探测洞底或牙颈部的龋洞是否变软、酸痛或过敏，有无剧烈探痛。还可探测龋洞部位、深度、大小、有无穿髓孔等。 邻面的早期龋损，探针不易进入，可用牙线自咬合面滑向牙间隙，然后自颈部拉出，检查牙线有无拉毛或撕断的情况。如有，则可能有龋病病变。 3.温度刺激试验 当龋洞深达牙本质时，患者即可能述说对冷、热或酸、甜刺激发生敏感甚至难忍的酸痛，医生可用冷热等刺激进行检查，亦可使用电活力测定。 4.X线检查 邻面龋、继发龋或隐匿龋不易用探针查出，此时可用X线片进行检查。龋病在X线片上显示透射影像。为了检查龋洞的深度及其与牙髓腔的关系，也借助于X检查。 5.透照 用光导纤装置进行，对检查前牙邻面龋洞甚为有效，可直接看出龋损部位和病变深度、范围。 (二)诊断标准 临床上最常使用的诊断标准系按病变程度分类进行，现介绍如下： 1.浅龋 浅龋位于牙冠部时，一般均为釉质龋或早期釉质龋，但若发生于牙颈部时，则是牙骨质龋和(或)牙本质龋，亦有一开始就是牙本质龋者。 位于牙冠的浅龋又可分为窝沟龋和平滑面龋。前者的早期表现为龋损部位色泽变黑，进一步仔细观察可发现黑色色素沉着区下方为龋白斑，呈白垩色改变。用探针检查时有粗糙感或能钩住探针尖端。 平滑牙面上的早期浅龋一般呈白垩色点或斑，随着时间延长和龋损继续发展，可变为黄褐色或褐色斑点。邻面的平滑面龋早期不易察觉，用探针或牙线仔细检查，配合X线片可能作出早期诊断。 浅龋位于釉质内，患者一般无主观症状，遭受外界的物理和化学刺激如冷、热、酸、甜刺激时亦无明显反应。 早期诊断疑为浅龋时，可定期追踪复查，或借助于其他诊断手段，如用荧光显示法检查，以一种氯化烃类染料涂布牙面，让其浸透2～3分钟，后用清水洗净，紫外光照射局部，龋损部位发出的荧光有助于早期诊断。此外还可采用显微放射摄影方法、氩离子激光照射法帮助诊断。 最常使用的常规诊断方法是作X线片检查，有利于发现隐蔽部位的龋损。 浅龋诊断应与釉质钙化不全、釉质发育不全和氟牙症相鉴别。 釉质钙化不全亦表现有白垩状损害，但其表面光洁，同时白垩状损害可出现在牙面任何部位，而浅龋有一定的好发部位。 釉质发育不全是牙发育过程中，成釉器的某一部分受到损害所致，可造成釉质表面不同程度的实质性缺陷，甚至牙冠缺损。釉质发育不全时也有变黄或变褐的情况，但探诊时损害局部硬而光滑，病变呈对称性，这些特征均有别于浅龋。 氟牙症又称斑釉症(mottled enamel)，受损牙面呈白垩色至深褐色，患牙为对称性分布，地区流行情况是与浅龋相鉴别于重要参考因素。 2.中龋 当龋病进展到牙本质时，由于牙本质中所含无机物较釉质少，而有机物较多，在构造上又有很多小管，有利地细菌入侵，因此龋病进展较快，容易形成龋洞。牙本质因脱矿而软化，随色素侵入而变色，呈黄褐或深褐色，同时出现主观症状。 中龋时患者对酸甜饮食敏感，过冷过热饮食也能产生酸痛感觉，冷刺激尤为显著，但刺激去除后症状立即消失。龋洞中除有病变的牙本质外，还有食物残渣、细菌等。 由于个体反应的差异，有的患者可完全没有主观症状。颈部牙本质龋的症状较为明显，这是由于该部位距牙髓较近之故。中龋时牙髓组织受到激惹，可产生保护性反应，形成修复性牙本质，它能在一定程度上阻止病变发展。 中龋有其典型的临床特征，因此诊断并不困难。 3.深龋