[管理学]统计制程管制作业员讲义版.pptVIP

本課程的目的 使學員: ? 常態分佈的曲線成“鐘型曲線”, 且具備下列特性: 68.3% 的數據在 μ± σ 範圍內 (μ: 平均值,σ: 標準差) 95.5% 的數據在 μ±2σ 範圍內 99.73% 的數據在 μ±3σ 範圍內 第一單元 總結 管制圖的選定 ▼基本原則 正常管制圖上的點，必須符合: (1)隨機分散（random fluctuation）與 (2)常態分佈 (normal distribution) 的原則，所以至少要滿足下面幾點要求： ▼ 區間測試(Zone Test)法則 區間法則(又稱為Western Electric rules)可適用於管制圖中心線之兩側。首先，將管制圖之兩側各分為三個區間，每個區間的寬度為一個標準差，如圖三所示： 區間測試法則 練習題 一個管制圖如下所示。請對此管制圖進行判讀，也就是說，判斷出這個管制圖是否有出現製程失控？ 1.連續八點落在管制中心的同一側。 2.連續十一點有十點落在管制中心的同一側。 3.連續十四點有十二點落在管制中心的同一側。 4.連續十七點有十四點落在管制中心的同一側。 5.連續二十點有十六點落在管制中心的同一側。 上述法則有一成立時，則判斷製程失控。 第二單元 總結 第二單元 總結 第三單元：常用管制圖之繪製 一、平均值-全距管制圖( 管制圖) 2. 點繪管制圖 ▼建立不良率管制圖之步驟 A. 選擇管制項目 選擇適合使用不良率管制圖之品質特性。 B. 搜集數據 搜集過去已知檢查樣本數n及不良數D之數據20組以上。 C. 分組 通常皆以一定時間之產品為一組、或以每批產品為一組、或以每天產品為一組，每組樣本之大小是依平均不良率來決定，並使每組樣本內含有1至5個不良品為佳，亦即n=25~100。挑選初步之m組樣本，計算每組樣本之不良率，m可取20～25組。 D. 計算平均不良率 例四、OQC 在測試站抽樣檢驗，得到下列檢驗結果， 請用下表之資料，點繪一不良率管制圖 [解]： 1. 計算管制中心線及上下界限 第三單元 總結 K. 計算管制界限: 註：工廠之製造工程其群體μ及σ大多為未知，故建立管制圖 時，均常採用群體之μ及σ未知之公式計算。 I. 計算全距之平均值:Ｒ。 J. 查係數表。 管制界限的係數表 L. 繪製管制界限 管制圖在上，R 管制圖在下，按習慣一般 圖之寬度較R 圖為大。將前面計算所得之管制界限數據繪入圖紙上。 M. 點圖 將F及G兩節中所計算得之X及R 數據，點繪在適當位置，並在相鄰兩點間以直線連接之。 N. 安定狀態之判定 點入圖內之點子，如在管制界限內，或無特殊圖案出現時，則判定製程安定，可繼續生產下去。如有點超出管制界限時，則判定製程有不正常原因侵入。 O. 採取措施 a.製程有不正常原因存在時，應即調查原因，加以處置。 c. R管制圖上有點超出管制界限時，則表示製程變異增大。 d. 採取措施(對策)時，不但要消除當時之不正常現象，還要預 防再度發生，以符合品質之原則。 b. X管制圖上有點超出管制界限時，則表示製程平均發生變化或 變異增大。 ▼實例說明 例一、內層製程工程師希望建構一個內層線寬量測的管制程序，以便當 內層線寬量測值發生異常時可以迅速的偵測出來。他從生產線上 收集到15組(每組樣本數目大小為3,即n=3),線寬量測數據如下， 請利用此筆量測數據繪製解析用之平均值與全距管制圖並判讀製程 是否失控。 [解]： 1.計算管制中心線與管制上下限 X管制圖管制上限：X+A2R=3.05+1.023×0.093=3.15 管制下限：X-A2R=3.05-1.023×0.093=2.95 R管制圖管制上限：D4R=2.575×0.093=0.24 管制下限：D3R=0×0.093=0 管制上下限 係數表 R 管制圖 __ X 管制圖 3. 判讀管制圖 在管制圖上第十四點超出下管制界線，故判定製程失控 (out of control)。 失控 二、不良率管制圖(p管制圖) E. 計算管制界限: (一). 當製程中母體不良率p未知則管制界限如下： 情形一:每組樣本大小n 均相等時(設有m組) (若管制下限0,則設為0) * World Class Quality Unimicron * 前次投影片 第○單元：基本統計概念 第一單元：統計製程管制(SPC)之基本概念 第二單元：管制圖的介紹及其應用 第三單元：常用管制圖之繪製 09/2002, Rev D 統計製程管制(Sta