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  • 2018-02-27 发布于河南
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面的作用增强

对生L乇膜面的作用增强 ,吼而造成薄膜中的压嘘力。这种原子喷九作甩在薄噤生长过程中一 直稳定维持着.故压戌力与膜I摹无茺l。 妇、结 论 1.一般来说,薄膜内应力起源千薄膜生长过程中的某种结构不完整性、表面能态的存在 以及薄膜,基体界断问的品格错配等。目前已提出不步有关应,勾起源的理论模劐,但每个模型 一 般 铯船释ij!;分实验事实。对应 起源的撵讨,颡 簿模或交、生长和微观结构韵深入研 究作为基础 。 2.研究了磁控溅射Co一& 磊Gd— 嫫的应力 生机制 Co. 骥的张应力起源予薄膜生 长过程中自可结均缺涵摘除玻应。丽Gd—Fr膜中存饪释 碰力耵}生长碰力 (均为压应力) 界面 应力与Gd在薄膜 /基片界面的偏聚有关,而生长应力劂起源于原子喷丸效应。 参 考 文 献 1 D.& C~mpbell,H bD0k0iThinFilm Technology,eds.L 1.M ·娟elandR.Giang,M cGr_w-Hm ,New Yo , 197ot12-3 2 F.M .d’Heur]e.Inter.M at.Rev..1989l34 f2) 53 3 R Abem 衄 net 。 nSolidFilms,1978I62l215 4 H.L.C~,welletB1.,J.App1.Phya.,1963I34|3261 5 K.L1Chopra,J.App].Phy|.,1966I37|2249 6 n H.Brnd burstandJ.s-L.Leach,J.Elecu~chem.s伽 ..1966l113—1245 7 J-H.VsnderMem .J.App|.phys.,1963}34I3420 8 K.Salto ^l,J.App1.Ph朔.,I972}43l182 9 G.Gafne.r.Phil.M姐 ..1960f5,1041 10 K.L.Chopraeta1.,Phil.Mmg.,1967ll6I261 11 H.S. catandR.W ,I-]offman.pro:.Phys.Soc.L~.dcm.1957lB70【95O 12 P.Chaudh|一,J.Vac.sc_Tech.o1.,1972l9f520 13 R.W .Sp~ erand R.W.Hoff~ n,j.v·c.So1.Techno1.,1973IlI238 l4 _厶F.Zhouand Y.d.Fan.ThinSolid Ims.1994}239:1 l5 D.W .H础 咐 nand J. Tb~ nton.J.Vac.Sci.T~hno,1..1980{17t380 16 D_W .Hoffmanand C.M .Kulks Vac.Sci.Techno].1985}A3:26OO 1, R. So m.e~h,V~~uulYt,19居lI34 ‘S7 J8 K-一El-M U盯, App1.Ph .,L987{62:1796 {0 M Ih jhk 时 1.,TtxlnSolld }腓 ,1e辐 l13O:87 卸 l厶 F.Zhouand Yn }1,Thm- Hlm lStfe髑 and M~chnnic~!Propert~.sIv,Mat.Res.Soc.Syurp.proc。,eds. P.H.Towar,endet●L ,Pit~ahttrgh—PA,19∞ .308:l 2l 范毛袋.周卷蜂.博膜辞学等抟术,1992;5 (3),} 22 U A.G k叮,ela1..iEEETr^n M 4A .,1986I22| 31 (上j叠摹s3贾 电曩c整;l亡大 .郢化擘厦瘴巷 太 ,转化 2.T;,sr曲,寸铀 /PbO 电擞 比Pb 撅的电 寰 2 酚旧曩■化的转亿率 催他性能优良 I l .1I l景 i;{媳 参考文献 }ltt }5l si土2.51jg^。日 : Tr}sattis-E[ect~ hsm-Act|1984;29(1I) ItS0 薹墨l E}3

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