关于智能卡的自动化测试平台设计.docVIP

关于智能卡的自动化测试平台设计 　　摘 要:传统的智能卡测试平台需要人工干预,严重影响测试效率,因此难以满足智能卡行业的测试需求。针对这个问题,在此提出一种新的解决方案。该方案以PC/SC为编程接口,实现了测试平台与智能卡的通信,利用扩展的TCL解释器定义了一种新的测试语言ATP,它包含TCL内置命令和应用程序的相关命令。测试人员可以利用ATP语言编写测试用例,在此平台上完成对智能卡的自动化测试。该方案已经得到实际验证。 　　关键词:PC/SC;读/写器;智能卡;TCL命令;ATP语言;应用协议数据单元 　　中图分类号:TP274文献标识码:B 　　文章编号:1004-373X(2010)04-089-03 　　 　　Design of Automated Test Platform for Smartcard 　　WANG Jingcun1,2??,SU Peng1,2?? 　　(1.Engineering Research Center of Metallurgical Automation and Meas.Tech.Ministry of Education,Wuhan University of Sci.and,Wuhan,430081,China; 　　2.School of Information Science and Technology,Wuhan University of Science and Technology,Wuhan,430081,China) 　　Abstract:Traditional test platform for smartcard requires human intervention,seriously affects test proficiency.So,it has difficulty meeting the test needs in the smartcard industry.To solve this problem,a new method is developed and presented.Using?? the programming interfaces of PC/SC to communicate from test platform to smartcard.A new test language ATP,including TCL built-in commands and application-specific commands,which is defined by extended TCL interpreter.Software testers may create test cases in ATP language to test smartcard almost completely automatic on the platform.The method has been verified in practice. 　　Keywords:PC/SC;IFD;smart card;TCL command;ATP language;APDU 　　 　　0 引 言 　　 　　随着智能卡在金融、电信、移动通信、医疗保险、付费电视等领域应用的迅速增长,其可靠性要求越来越高,而针对智能卡模块的测试已经成为必不可少的质量保证手段。自动化测试不需要人工干预,能提高测试效率,受到更多重视和应用。在发展自动化测试的过程中,一个高效的自动化测试平台是其基本保障。 　　根据智能卡的应用现状和市场需求,本设计用TCL语言和C语言联合编程的方法,以PC/SC为编程接口,实现了智能卡的测试平台,能够对智能卡进行质量和性能的测试。 　　 　　1 测试系统结构 　　 　　具有测试功能的系统结构如图1所示。 　　测试系统一般由测试平台、读/写器和智能卡三个部分组成。测试平台运行测试脚本,并对从智能卡返回的结果进行处理。智能卡内部有被测程序,响应测试平台发来的命令,返回测试数据。读/写器提供测试平台和智能卡的接口。这里的研究重点是测试平台。 　　图1 测试系统结构图 　　 　　2 测试平台的设计思路 　　 　　测试平台软件由两个部分组成,即界面程序和通信软件程序,如图2所示。界面程序提供一个友好的图形画面,接受用户指令,如脚本输入,按钮响应等。界面将用户的任务转换为内部指令,然后由通信软件程序具体实施,而通信软件程序负责与USB读卡器通信。 　　下面分别介绍界面程序和通信软件程序的实现原理。图2是测试平台的软件结构。 　　2.1 界面程序 　　界面程序分为三层,如图3所示。 　　图2 测试平台的软件结构