QA-4-006B3D辐射场型量测场地校正作业指导书.doc

目的 為規範本公司3D輻射場型量測場地的校正程序，以維護測試品質，特訂定本指導書。 適用範圍 測試方法：CTIA Mobile Station OTA Performance (TRP, TIS)，Gain Pattern量測 操作頻率： 700MHz ~ 6GHz 環境管制 溫濕度：Temperature: 25±5?C Humidity: 60% 場地：3D fully chamber (3D01-HY) 量測設備 網路分析儀：Agilent E8358A Precision Sleeve Dipole：EMCO 3126-880，EMCO 3126-1845 Octave Gain Horn：EMCO 3161-02，EMCO 3161-03 職責 工程部：依本指導書執行3D輻射場型量測場地之校正 品管部：監測工程部依本指導書執行之作業 概述 場地校正 本文件所述之場地校正，分為Ripple Test及Range Calibration，各概述如下： Ripple Test 目的 Ripple Test主要目的在於確認量測場地之靜區特性是否符合量測需求。 執行時機 除了場地於建設完成初期之驗證外，每年至少需重新驗證一次，以確保量測場地環境之變化。 量測場地設置變動(如吸收體、量測天線或EUT Positioner等)，有影響量測靜區特性之虞時。 特性需求 3D輻射場型量測場地之靜區特性，以不高於建設完成初期之驗證結果為準。 異常處理 當校正結果出現異常時，依QA-2-005 異常處理程序處理。 若因場地使用損耗致使靜區特性無法符合7.1.1.3之要求時，應以校正所得結果重新評估不確定度，評估後之總不確定度需符合CTIA要求之2.0dB。 Range Calibration 目的 Range Calibration之目的在精確求得量測系統之路徑損失，以作為量測TRP、TIS及天線增益時，用以計算量測結果之校正因子。 執行時機 除了每個月週期性的校正之外，如有任何影響量測環境條件之虞時(如場地Factor變動、執行日常作業檢查程序發現異常時，等)，應執行以確保校正因子之正確及適用。 特性需求 除變更連結電纜線或量測天線等因素外，校正所得之路徑損失與前次所得之差值，以下列條件管制： 0.7 – 2GHz：±0.3dB* 2 – 6GHz：±0.5dB* *依天線3D場型量測不確定度評估報告校正部分，以mismatch、network analyzer、measurement distance與singal level ripple within quiet zone取RSS值。 異常處理 當校正結果出現異常時，依QA-2-005 異常處理程序處理。 系統簡介 本系統之量測區域如下圖 尺寸單位換算為公制單位為： 長：7315 mm 寬：3657 mm 高：3657 mm 量測距離：4877 mm 所採用之定位系統為Combined-Axis System 依測試位置及待測物尺寸使用不同之Positioner：Free Space ( Light-duty positioner；Talking Position ( Medium-duty positioner 本系統之傳輸路徑簡述如下： 系統示意圖 而不同之量測項目，所使用的校正因子如下： TRP 及TIS：Range Loss = Cable Loss (receiving part) + Gain (Measurement Antenna) + Space Loss + Gain (Reference Antenna) Gain：Whole Path Loss = Range Loss + Cable Loss (Transmitting Part) 校正方法 Ripple Test Ripple Test之量測方法，分為Phi-axis ripple test及Theta-axis ripple test。不同之positioner皆需以兩種量測方法確認。 Phi-axis ripple test 將sleeve dipole置於水平極化之位置，旋轉Theta軸至90度，將Phi軸由0至360度旋轉，同時每旋轉2度記錄其量測值。 將sleeve dipole向上、下或側邊偏移150±3mm，重覆a.步驟。 總共需量測六個位置，如圖 Theta-axis ripple test 將sleeve dipole置於垂直極化之位置，將Theta軸由0至360度旋轉，同時每旋轉2度記錄其量測值。 將sleeve dipole向上、下、左、右、前或後方偏移150±3mm，重覆a.步驟。 總共需量測七個位置，如圖 分析方法 除中心位置，其他位置之量測距離會隨旋轉角度而變，故每