基于ＡＲＭ的简易低频幅频特性测试仪的设计.docVIP

基于ＡＲＭ的简易低频幅频特性测试仪的设计 　　摘要：本文设计实现了基于ARM微处理器和实时操作系统μC/OS-Ⅱ的简易幅频特性测试仪，给出了硬件结构图和用户任务函数。充分利用了ARM7系列微处理器的强大功能，最大程度的减少了外围电路，降低了系统的功耗。并成功地在微处理器上移植了实时操作系统μC/OS-Ⅱ，提高了系统的稳定性。 　　关键词：ARM微处理器；μC/OS-Ⅱ；幅频特性 　　中图分类号：TP249文献标识码：A文章编号：1009-3044(2008)30-0756-02 　　 　　The Design of Simple Low-frequency Magnitude-Frequency Characteristics Tester Based on ARM 　　ZHANG Yan-wei 　　(Air Defense Forces Command Academy,Zhengzhou 450052,China) 　　Abstract： This design realizes a low-frequency magnitude-frequency characteristics tester based on the ARM microprocessor and the real-time operating system μC/OS-Ⅱ.It gives the hardware structure drawings and the user tasks functions, has actual using value and significance of studies. 　　Key words：ARM microprocessor; μC/OS-Ⅱ; magnitude-frequency 　　 　　1 引言 　　 　　幅频特性是一个电子网络的传输特性，它是网络对不同频率信号的作用效果的重要技术指标。以常用的低通滤波器为例，它的作用就是使频率高于某一特定频率的信号得到最大的衰减，从而得到低于该特定频率的信号。幅频特性曲线可以直观地反映滤波器对不同频率信号的衰减程度，利用特性曲线可以衡量滤波器的性能。传统的幅频特性测量方法，是在一系列规定的频率点上，逐点测量网络增益（或衰减），从而确定幅频特性曲线。用这种方法得到的幅频特性曲线比较精确，但其缺点是操作繁琐、工作量大、容易漏测某些细节，不能反映出被测网络的动态特性[1]。而现有的幅频特性测试仪也不能很好地满足用户的需求，要么存在设备体积大，易有故障，并且操作复杂等缺点，难以满足尤其是现场自动测试的要求的缺点，要么就是结构复杂、价格昂贵、维护困难。 　　某些基于八位单片机（如51系列单片机）的幅频特性测试仪，由于八位机自身的限制，其系统不得不加上庞大的外围器件（如信号发生单元、ADC、DAC等），这就从根本上决定了其系统在开发调试、测量精度、系统维护等方面存在缺陷。随着ARM技术的发展，某些微控制器内部集成了ADC、DAC等大量外设，这为我们设计生产测量精度更高、系统使用和维护更为快捷方便的新型幅频特性测试仪提供了条件。 　　 　　2 系统工作原理 　　 　　本系统结合了点频法和扫频法的优点，利用ARM单片机产生一个幅度恒定且频率随时间连续变化的信号作为被测网络的扫频信号，扫频信号经过被测网络后，其幅度会根据被测网络的幅频特性做一定变化，ARM单片机对被测网络的输出信号进行采样和处理，得到输出信号的幅度有效值，然后送到液晶显示模块或者经D/A转换后送到示波器，通过液晶显示器或者示波器就可以直观的得到被测网络的幅频特性曲线。系统原理图如图1。 　　 　　3 硬件结构 　　 　　根据幅频特性测试仪的特点，在设计时主要考虑系统的低功耗，扫频信号的精确性和可控性，数据采集和处理准确而快速，以及显示直观等方面。本系统采用philips公司生产的LPC2132单片机作为主控MCU，该单片机具有16KB片内静态RAM，64KB片内Flash程序存储器，1个8路10位A/D转换器和1个D/A转换器，使系统外围不需要扩展存储器和D/A和A/D转换模块，大大节省了成本，降低了功耗[2]。系统的结构框图如图2。 　　3.1 信号发生电路 　　LPC2132具有一个10位数/模转换器，其输出信号的幅度和频率可编程设置。输出信号的幅度范围0~Vref，Vref为参考电压。输出信号的初始频率在程序中设定，并可根据用户的要求，通过键盘改变扫频信号的频率步进。扫频正弦波信号通过Aout引脚输出到被测网络。扫频信号经过被测网络的滤波等操作后输出，此时信号即为被测幅度信号。 　　3.2 数据采样电路 　　被测幅度信号经过整流电路后，变为强度为幅度信号