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第二节 额定短时耐受电流的承载能力试验 试验步骤和程序控制过程中以使用类别B的断路器为例： 试验步骤和程序控制过程为：试品触头闭合→保护开关QP闭合→光线示波器P启动→合闸开关Q闭合→试验电流出现并持续规定时间后保护开关QP自动脱扣断开，把试验电流切断→合闸开关Q断开→光线示波器具P停止拍摄→检查试品分析示波图。 试验结果的判定： 电器额定短时耐受电流的承载能力试验中电器的状况由有关产品标准规定。试验后，触头不发生熔焊，机械部件和绝缘件应无损坏和变形而影响正常工作。要求电器用其正常操动方式操作应能正常动作。 低压断路器产品标准规定，短路试验结束后的断路器应按每一适用程序所规定的验证项目加以检验，每一试验程序的检验均合格，方能判为合格，否则判为不合格。 第三节 耐受过载电流能力试验 试验结果的判定 （1）比较图7-13中的波形1和2，按比例求出试验过程中的电流最小值，此值应大于要求值。 （2）试后的试品情况应与试前基本相同，触头无熔焊；绝缘部件无损伤；弹性部件无不可恢复的变形等。 （3）应能满足有关产品标准规定的动作性能要求。 （4）试品主电路应能承受有关产品标准规定的工频耐压试验。 上述几项均合格，则试品判为合格，反之，则试品判为不合格。 图7-13 耐受过载电流能力试验电流波形图 1—测量电流波形；2—试验电流波形 （三）电磁兼容试验 电磁兼容包括电磁干扰（EMI）和电磁敏感度（EMS）两部分。限制电子设备或系统的EMI的目的是保护电子设备或系统正常工作时所处的电磁环境；提高电子设备或系统的EMS能力，确保电子设备或系统的工作性能免受周围电磁环境的影响。 表23 EMC试验——抗扰度 （见8.4.1.2） 试验的型式 所要求的试验水平 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-1998 8kV/空气放电或 4kV/接触放电 射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T 17626.3-1998 10V/m 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T 17626.4-2008 2kV对电源端a 1kV对信号端b 1.25/50 μs~8/20 μs浪涌抗扰度试验 GB/T 17626.5c-2008 2kV(线对地) 1kV(线对线) 射频传导抗扰度试验(150KHz至80MHz) GBT 17626.6-2008 10V 工频磁场抗扰度试验 GBT 17626.8 d-1998 30A/m 电压暂停、中断抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008 半个周波下降30% 5~50个周波下降60% 250个周波下降100% 电源谐波抗扰度试验 IEC 61000-4-13:2002 e a 电源端：由导体或电缆输送电器与其相连的并联设备运行所需要主电能的端口。 b 信号端：由导体或电缆传送与设备相加的数据或信号的端口。可应用端口在产口标准中规定。 c 额定直流电压24V及以下不适用。 d 仅适用于含有易受工频磁场影响元件的电器。 e 要求待制定。 表24 存在电磁干扰时的验收标准 项目 验收标准 （试验中应执行的标准） A B C 全部运转 工作特性无明显变化按预期计划执行 性能暂时降低或丧失，但能自恢复 性能暂时降低或丧失（需要操作者干预或系统复位） 电源和控制电路运转 无不正确运转 性能暂时降低或丧失，但能自恢复a 性能暂时降低或丧失（需操作者干预或系统复位） 显示器和控制面板运转 显示信息无变化 仅LED有轻微的光亮度变化或轻微字符移动 暂时的可视变化或信息丢失非预想LED照明显示 停机或显示死机 有明显的或显示错误信息和/或非法操作模式 不能自恢复 信息处理和传感功能 与外部设备进行无干扰通信和数据交换 临时干扰通信，有内、外部设备的错误报表1) 信息的错误处理 数据和/或信息丢失 通信有错误 不能自恢复 a 特殊要求应在产品标准中规定 例1：画出三极交流断路器过电流脱扣器脱扣试验电路图： 多极断路器各极串联后进行单相脱扣试验电路 Q—合闸开关；TV—单相调压器； T—升流变压器； TA—电流互感器；PA—电流表；QF—被试电器 例2：用模拟法测出周围温度50℃下热态时的交流接触器的吸合电压值： 在电路中串接一个电阻，其电阻值与周围空气温度增加而使电压线圈电阻增加的数值相同。 测定的步骤如下： 在常温和冷态下测量线圈