CCD影像模块用户手册.doc

RationalDMIS 影像功能 使用说明 爱科腾瑞科技（北京）有限公司 公司电话：010-6478-7138  目录 1.总体说明 1 1.1查看是否开通影像测量功能 1 1. 2 CCD测量稳定性参数调节 2 2. 光学探头的定制与校验 3 2.1 在测头数据库中定制光学探头 3 2.2 光学探头的校验 4 2.2.1 CCD校验 4 2.2.2 复合测头校验 6 3.“图像分析”操作界面工具条介绍 7 3.1 自动对焦 7 3.2 自动工具 7 3.4 边界点工具 9 3.5 辅助测点工具 10 3.6 直线工具 11 3.7 圆/弧组合工具 11 3.8 多边形工具 13 3.9 复合式测量 15 3.10 橡皮擦 16 3.11 采样点数设置 16 3.12 快捷测量 17 3.13微调 17 4. 影像测量程序 18 4.1 影像捕捉 18 4.2自动对焦 18 4.3 自动工具 18 4.4 曲线工具 18 4.5 边界点工具一 18 4.6 边界点工具二 18 4.7 直线工具 18 4.8 圆工具 18 4.9 圆弧工具 19 4.10 多边形工具 19 4.11 例子程序实现 19  总体说明 1.1查看是否开通影像测量功能 从2.64版本开始模。模是。在2. 之前发布是模。2.64 版本模从 窗观看 如上图所示在 关于 窗口可选模的显示窗口。。 定制后的光学探头将显示在探头数据库列表中 选中定制后的光学探头，添加并激活，准备进入CCD的校验过程 2.2 光学探头的校验 光学探头的校验分为2项：CCD校验和复合校验： 2.2.1 CCD校验 开始校验，切换到光学探头校验中的“CCD校验”窗口： 将基准圆移动到影像区十字线的一侧（例如下图所示位置），根据提示，使用影像功能中圆工具测量校验规中的基准圆。 将该基准圆偏移到十字线的另一侧，采用影像方式中的圆工具再次进行测量。 点击“CCD校准”，完成光学测头校验。 此时，已经可以使用光学探头进行测量了。 注意：*如果进行复合测量，则必须完成复合测头的校验，以确定影像测头和触发测头之间的实际偏置距离。 2.2.2 复合测头校验 切换到触发测头，通过实际测量，在元素数据区创建基准圆数据。 切换到光学探头校验中的“复合校验”窗口： 切换到影像测头，使用影像功能中测圆工具测量基准圆（必须和触发测头是同一个圆）。 拖放元素数据库中使用触发测头测量过的基准圆到校验窗口，点击“校准”，完成校验。 校验完成后，在光学测头属性页中会确定出光学测头和触发测头之间的实际偏置距离， 此时，可以使用光学探头和触发测头进行复合测量了。复合测量时，光学探头测量的数据将自动与触发探头的坐标系保持一致。 3. “图像分析”操作界面工具条介绍 3.1 自动对焦 点击后，机器会进行自动对焦。 3.2 自动工具 快速自动测量：自动识别元素特征。 鼠标左键在“图像分析”窗口点一下，软件会自动识别附近的像素比最高点，能自动识别的元素：圆、直线、椭圆、曲线 例1：自动识别出圆 例2：自动识别出曲线 3.3 曲线工具 如下图：鼠标依次点击1-3位置，其中第一点为曲线起始点，第二点为方向点，第三点为曲线中止点。软件沿这3点自动跟踪图像边界，获得曲线。 3.4 边界点工具 方式一：鼠标原地点选，返回影像中距离此点最近的边界点。 方式二：鼠标拖放一条直线，返回直线与影像边界的交点。 3.5 辅助测点工具 直接返回鼠标点击的位置。对于图像质量低或位置特殊的情况，可使用此工具进行人工辅助识别。 3.6 直线工具 鼠标点击待测直线的起点，移动鼠标，跟随鼠标的移动屏幕上产生一个矩形检验框。移动到待测直线的终点，点击鼠标，完成直线测量。在终点位置鼠标按键抬起前移动鼠标位置，可改变矩形检验框的宽度。 3.7 圆/弧组合工具 测量圆： 鼠标依次点击下图1-3的位置，即可识别出圆 测量圆弧： 鼠标依次点击下图1-3的位置，点击第3个元素时不松开鼠标，按住鼠标拖动可改变所选的区域。选择好合适的区域后再松开鼠标，实现圆弧的测量。 3.8 多边形工具 识别鼠标点选区域内的元素 如下图：假设圆有2个凸/凹部分，鼠标依次按照1-N的位置点选，并在选择最后一个点时双击鼠标左键，软件将自动识别出所选区域，从而避开凸/凹部分： 3.9 复合式测量 根据工件形状，同时选用多种测量工具完成测量。 如下例：使用不同的测量方法分别测量圆的一部分，软件将用这两部分的点拟合出圆，从而避开了凹槽部分 3.10 橡皮擦 橡皮擦：用来删除多余的测量点。 选中“橡皮擦”后，鼠标在图形上拖动擦去多余的测量点，再点击测量窗口的“删除”键，最后双击“鼠标左键”重新采集保留的测点。 3