读书报告一 探测器总结.docVIP

探测器类型 探测物质 工作原理 适用范围 相互比较 电离室 气体 入射带电粒子通过碰撞使气体分子电离或激发，在外加电场加速作用下，电子和离子（漂移、扩散）被收集到电极板上，形成探测信号。 记录单个辐射粒子（重带电粒子的能量和强度）使用脉冲电离室，记录大量辐射粒子平均效应使用电流电离室，记录累积效应使用累计电离室。 结构简单，长期工作稳定性好，寿命长，使用中无须维修，能在恶劣环境下稳定工作。 正比计数器 气体 气体探测器工作在正比区时，粒子收集过程中出现气体放大现象，即被加速的原电离电子在电离碰撞过程中逐次倍增而形成电子的雪崩。收集电极上感生的脉冲幅度为原电离感生脉冲幅度的M倍。 低能或者地比电离的粒子，比如软β、γ和X射线以及高能快速粒子。探测下限可达到250eV。 1，脉冲幅度大。比电离室高10^2到10^4倍。 2，灵敏度较高。3，脉冲幅度几乎与原电离地点无关。4，脉冲幅度随工作电压变化大，容易受外来电磁干扰。 G-M计数器 气体 在有限正比区，气体放大系数由于光子、正离子和空间电荷效应越发明显而急剧上升，并失去与原电离的正比关系；当M10^5时，电子雪崩持续发展成自激放电，增殖的离子对总数与原电离无关。 适用于任何能产生离子对的射线。 优点在于：1，脉冲幅度大。达到V到10V量级，可以不经过放大器或只需要单级放大器便能触动记录电路。 2，灵敏度高。无论何种射线，只要能产生一对离子，就能被记录。3，稳定性高：不收外界电磁场干扰，对电源稳定性要求低。4，成本低，灵巧便携。缺点在于：1，不能鉴别粒子的类型和能量；2，分辨时间长，100μs，不能快速计数；3，正常工作温度范围小。 闪烁计数器 闪烁体 1，射线进入闪烁体发生相互作用，闪烁体吸收带电粒子能量而使原子、分子电离和激发；2，受激原子、分子退激时发射荧光光子；3，利用反射物和光导将闪烁光子尽可能多地收集到光电倍增管的光阴极上，击出光电子（光电效应）；4，光电子在光电倍增管中倍增10^4到10^9，电子流打在阳极负载上产生电信号；5，信号被电子记录仪器记录和分析。 NaI主要探测低能γ射线和X射线能谱和强度；BGO主要探测低能X射线和高能γ射线；液体闪烁体主要测量中子和β射线。塑料闪烁体主要测量α、β、γ、快中子、质子、宇宙射线和裂变碎片等。 1，应用广泛，可以进行能谱测量、强度测量、时间测量、剂量测量。2，可以根据探测射线的种类、强度和能量选择不同的闪烁体，闪烁体发射光谱与光电倍增管响应配合，可获得高光电子产额。3，可以在测量一种射线时排除其他射线的干扰。 半导体探测器 半导体 半导体探测器有两个电极，加有一定的偏压。当入射粒子进入半导体探测器的灵敏区时，即产生电子-空穴对。在两极加上反向电压后，电荷载流子就向两极作漂移运动﹐收集电极上会感应出电荷，从而在外电路形成信号脉冲。 金硅面垒半导体探测器主要用于短射程带电粒子的能谱测量；高纯锗探测去探测β、γ射线。 1，能量分辨率比气体、闪烁体高，仅次于磁谱仪。其比电离能是气体探测器的1/10左右。 固体径迹探测器 材料包括云母、石英及各种矿物晶体；玻璃、陶瓷等非晶体;聚碳酸酯、硝酸纤维、醋酸纤维、聚酯等聚合物塑料。 带电粒子通过材料产生辐射损伤，形成一条连续的辐射损伤径迹，可用电子显微镜观察到。受到辐射损伤部分能以较快速度从探测器表面开始与蚀刻剂反应，并溶，沿辐射损伤径迹出现一条细长的孔洞或蚀锥。各种表面腐蚀速度要慢得多，孔洞直径不断扩大。当径迹直径扩大到微米数量级时，就可用光学显微镜观察。 可探测质子、α 粒子、重离子、裂变碎片和宇宙线中的原子核等。 1，固体径迹探测器具有明显的阈特性。辐射损伤密度大于某一阈值时，才能蚀刻出径迹。。β、γ和 X射线在各种固体径迹探测器中的辐射损伤密度都低于其阈值，不能产生径迹。利用这种阈特性，可以在同时有β、γ、X 射线及较轻粒子的场合无干扰地记录所需要的重带电粒子。2，固体径迹探测器具有分辨粒子的能力。辐射损伤密度与入射粒子的电荷数及速度（或能量）有关，测量径迹上某点的蚀刻速度和剩余射程，就可以确定粒子的电荷数、质量数和能量。3，　在常温下，固体径迹探测器中的径迹很稳定。 气泡室 过热液体 密闭容器中的工作液体在特定的温度和压力下进行绝热膨胀时﹐可以在一定的时间间隔内(一般约50毫秒)处于过热的亚稳状态而不马上沸腾。此时如果有高能带 电粒子通过﹐在粒子飞行路线上与液体中的原子碰撞而产生低能电子(δ射线)因而产生很多离子对﹐这些离子对在复合时引起局部发热或热针﹐从而形成胚胎气 泡。逐渐经过不短于0.3毫秒(一般为1毫秒)之后﹐气泡长大﹐就可以对它进行照相。这时把这一连串气泡拍摄下来﹐就得到了高能带电粒子的径迹底片。 用气泡室发现了Σ0，Ξ0，Σ+，Ω-等粒子