光电检测器的特性参数.pptVIP

第三章　光电检测器件 §3.1 光电探测器的性能参数 上式的定义在测量上是困难的，通常给出的是相对光谱灵敏度Sλ定义为  5、频率响应 S(f ) 随f 升高而下降的速度与τ值大小关系很大。 一般规定，S(f)下降到 时的 频率fc为探测器的截止响应频率。 从上式可见： 当 f fc 时，认为光电流能线性再现光功率P的变化。 二、量子效率η 如果说灵敏度S是从宏观角度描 述了光电探测器的光电、光谱以及频 率特性，那么量子效率η则是对同一 个问题的微观描述。 量子效率η:表示探测器单位时间内激发的电子数和吸收的光子数之比。 光电探测器的噪声是物理过程中固有的，是一种不可能人为消除的输出信号的起伏，是与器件密切相关的一个参量。是光电探测器瞬时输出的电压或电流值。 噪声是一种随机过程，它的波形和瞬时振幅以及相位都随时间无规则变化。因此，通常用统计的方法来描述。 1、热噪声（约翰逊噪声） 电阻材料在温度高于绝对零度时，载流子的无规则热运动会造成无偏压下的起伏电动势。这种随机起伏起伏就是电阻材料的热噪声。 2、散粒噪声 在每个时间间隔内，穿过势垒区的载流子数或从阴极到阳极的电子数都围绕一平均值上下起伏。这种载流子的随机涨落所造成的噪声称为散粒噪声。 产生在以光电发射为探测原理的光电器件中。 3、产生－复合噪声 载流子（电子、空穴）的产生率与复合率在某个时间间隔也会在平均值上下起伏，这种起伏导致载流子浓度的起伏，从而也产生均方噪声电流，称为产生-复合噪声。 1/f 噪声的经验规律为 ： 式中 为与元件制作工艺、材料尺寸、表面状态等有关的比例系数； α为系数，它与流过元件的电流有关，其值通常取2； β为与元件材料性质有关的系数，其值在0.8~１.３之间，大部分材料的β值取１； γ与元件阻值有关，一般在１.４～１.７之间。 这种噪声不是白噪声，属于“红噪声”，相当于白光的红光部分。 探测器的主要噪声 5.　温度噪声 由于材料的温度起伏而产生的噪声。在热探测器件中必须考虑温度噪声的影响。 当材料的温度发生变化时，由于有温差ΔT的存在，因而引起材料有热流量的变化Δφ，这种热流量的变化导致产生物体的温度噪声。 各种噪声源的功率谱分布图 （1）信噪比（S/N） 负载电阻R上产生的信号功率与噪声功率之比，即： 若用分贝（dB）表示，则为 （2）等效噪声输入（ENI） 定义：器件在特定带宽内（1HZ）产生的均方根信号电流恰好等于均方根噪声电流值时的输入通量。 确定光电探测器件的探测极限时使用。 （其他参数，如频率、温度特定） （3）噪声等效功率（NEP） 最小可探测功率Pmin 定义：信号功率与噪声功率之比为1（即S/N=1） 时，入射到探测器件上的辐射通量（单位为瓦） 归一化探测度D* 实际中，考虑到光谱的响应特性，一般给出D*值时注明响应波长λ、光辐射调制频率f及测量带宽Δf，即D*(λ, f ,Δf )。 光电探测器的合理选择 最关心的问题： 1、根据待测光信号的大小，确定探测器能输出多大的电信号，即探测器的动态范围； 2、探测器的光谱响应范围是否同待测光信号的相对光谱功率分布一致，即探测器和光源的光谱匹配； 光电探测器的合理选择 3、当测量调制或脉冲光信号时，要考虑探测器的响应时间或频率响应范围； 4、当测量的光信号幅值变化时，探测器输出的信号的线性度。 还要考虑探测器的稳定性、测量精度、测量方式等等 （4）探测率D与归一化探测度D* 取NEP的倒数并定义为探测度D，即 这样，D值大的探测器就表明其探测力高。 影响因素：光敏面积A 测量带宽Δf * * 式中Sλm是指Sλ的最大值，相应的波 长称为峰值波长，是无量纲的百分数，随 λ变化的曲线称为探测器的光谱灵敏度 (响应）曲线。 s S 理想器件的响应脉冲与辐射脉冲是一致的。 例： 实际器件的响应都具有滞后现象（惰性）。 例： （b）响应脉冲 （a）辐射脉冲 （a）辐射脉冲 （b）响应脉冲