第6章 电子元器件参数测量及仪器.ppt

b）测电感 先不接Lx，调节Cs至较小值Cs1处，调节信号源频率使电路谐振， 再接入Lx,调节Cs使电路再次谐振，此时可调电容值为Cs2 ，应有： L Cs V + Us – Lx 3）串联替代法 适用于测量大电容、小电感等低阻抗元件。 a）测电容 先将A、B短路，调节Cs至较小值Cs1，调节信号源频率至f 0时，回路谐振，则 再断开A、B端，接入Cx，调节Cs至Cs2，回路重新谐振，则有： L Cs V + Us – A B Cx b）测电感 先将A、B短路，调节Cs至较大值Cs1，调节信号源频率至f 0时，回路谐振，则 再断开A、B端，接入Lx，调节Cs至Cs2，回路重新谐振，则有： Us L Cs V + – A B Lx 3.Q表的工作原理 Q表是由一个频率可变的高频振荡器，一只标准的可变电容 器和一个高阻抗的电子电压表组成。当谐振电路谐振时，电 容(或电感)上的电压： Q=XC/R =1/R2πf0C Q =us/uc US 图6.22　Q表工作原理图 I Uc 除了从电压表读出Q值外，还可以由振荡器和电容器的刻度盘 上读出f和Cs的数值，从而根据 的关系计算出线圈的电感Lx。为了方便起见，在标准电容器的 度盘上加一条电感刻度，那么在测量一些特定频率时，可以不 经计算而直接由刻度盘上读出Lx值。 国产Q表，如QBG-3型的技术参数为：Q=10~600，分三档， 准确度±15%；L=0.1μH~100mH，分六档，准确度±5%； C=1～469pF，f0=50kHz～50MHz，分七档，有七个特定频 率点。 标准电感 晶体管特性曲线的测量 以NPN型晶体管为例。 （一）NPN型晶体管输出特性的测量 Ic=f (VCE)|IB=常数 1、点测法 构建测试电路如下图所示。 Vcc VBB RB RC μA mA V IB + VCE – IC 6．5 电子器件特性及参数测量仪器 （1）方法： 1）调节VBB，产生IB0；再调节VCC使VCE从0变到某一最大值U，观测IC的变化，描点绘曲线； 2)重复1）的过程，产生IB1、IB2、IB3……IBn，观测各次IC的变化，描绘曲线。 最终得如图所示曲线，即输出特性曲线。 IC VCE 0 IB0 IB1 IB2 IB3 IB4 （2）特点分析： 1）繁琐，描绘一条曲线需要观测多次电压、电流值； 2）由于不知VCEO、ICM等极限值，改变VCC值时容易损害被测器件。 6．5电子器件特性及参数测量仪器 2、图示法 （1）思路： 用阶梯信号代替可调基极电压VBB，用集电极扫描电压（全波整流信号）代替可调集电极电压VCC，构建如下测试电路，并用示波器显示输出特性曲线。 （2）需解决以下几个问题： 1）产生的IB、VCE波形如何,有什么样的关系？ 2）示波器上显示的波形是什么样的？ RC IC Y偏转板 Vcc VBB RB IB + VCE – RF + + – – X偏转板 + – UF 6．5 电子器件特性及参数测量仪器 第一个问题：产生的IB、VCE波形如何,有什么样的关系？ a)∵ ，IB 、VBB成正比 ∴ IB 的波形应与VBB相同，但幅度不同。 b) ∵ VCE=VCC–IC（RC+RF） , VCC∈ [ 0, VCCm], IC∈ [0, ICm] ∴对应每一IC值， VCE波形与VCC相近（起始处变化趋势不同）； 随着IC值的增大， VCE幅度降低越多。 在时间关系上，为了实现Ic=f (VCE)|IB=常数的函数关系，IB为 一常数时,VCE应实现一次从小变大的过程； 为配合示波器电子水平扫描， VCE应再从大变小； 即：IB 每阶梯变化一次,VCE 应从小到大、从大到小往返变化一次。 综上所述： IB 与VCE 的波形应如下列图所示。 6．5 电子器件特性及参数测量仪器 VBB 0 t IB 0 t VCC VCE 0 0 t t t VBB0 VBB1 IB0 IB1 IB2 全波 整流信号 近似 整流信号 均匀 阶梯 信号 均匀 阶梯 信号 VBB2 VBB3 IB3 6．5 电子器件特性及参数测量仪器 第二个问题：示波器上显示的波形是什么样的？ 将VCE和IC在RF上的取样电压UF分别加到Y偏转板及X偏转板上控制电子的垂直及水平运动，显示如下波形。 0 IC VCE I