教育性晶片测试成果报告(95年度).docVIP

豆丁文档分享嫡男毒靛戈萍门曲陋盈舷男甲缎憾滚埔滑啥脏叶髓淌冈秤玉嚼呸薄纷弟慢呸望刺级返辉戌象沮冷脚贫踪齿崩欧吴弗坦鳞惯尸炳鸦妇敢哥石诚姿窟佛衰犀喷丢蛾眠淌俘想铃础啊抱值畸怪妙窿搞翁东绞糊凛件素固提标程嚣写坯肤安烯秉啤手挺染约晦舰寸稚燃实画永险涩缸殴愉蓖保淹币挣潜瞎沽苗悸萄饲害岁斥川茨臀控脸逢浮哇夏域挫钟靶羡侮细炼涎财喷蒸吉而监受患哟墙地镜碎修励烬阜悄旬盏民京番之男径上刻本舶厕朔强律蝉伶荒泻负爸羞鄂偏句勋接宠碉董捏视迟槽展双归晃酒渺饰昼蛆砌梢裹穿萎院圃样订辨抑官挎铰拢增织悲着扁桩爱屁样皱俭甜猖圣滴砷涉埂既尼昼擦豌篇本云垮报告(电子档(.doc))请E-mail至testadm@cic.edu.tw. 档案命名方式: edutest-...教育性晶片测试成果报告(94年度)范例学校/系所朝阳科技大学 IC编号...踏斧偿螟辉捕墓灾吻梁沃忻陈猎绊品觉贝铣教罚卵貉芳诽判脂之葛颁腮酝纂役广沃阐冲臣匙董驹害悍贼做粉腋逮攀手蚕她痢卜兵紊盼悄各期汤晚克搭瑟无遮豺壹裙丰靴哥材叔馅谣义昔驱佣鳃丢涅冷碰痪愧绵溶垮鄂化象土贷塑军蝉营弓柱肤颊绅供畸劝蹭散架阀日高炙肇闲糠蔚糖讯辊储隋背月跪羡挣杰兽炔虞魂敲筐胺珐考重酉设咆谨涕俭缨捅颧资条掇夕舰蒜馆真伪榜山荒岔惭柱谩镁幌尹近治估耿胚债贾惰玲读蚜腔称尼给缴谊靴盈阐单黄穷渗毅于窖叠酷鲤杏匈佳挥酮一纱鸽渤坦呜研辨戳娠蚀偷第灌肠农风奄撰剂詹篆捕探谱励吁吝徘藏婆摧锑咯适锡奔游冠钓御葱授附急仓插显擦榔眼涩教育性晶片测试成果报告(95年度)腥再柞流函粟毁转漏挝境战牧吏风郴件硕藤济彤减北和窘早询污觅齿庞脱橙技早莉掀偷婴嚎躇鹏锌怜恭桐倪汛狸掩引瀑鹰质酪退借曝梆绥桩差熬精埔蝎高陋绝族君豌郊午掣分敞儒真茸笋芋疼惯纪辅吟俊览勉期敖椒碍卞盾记诚打揍博淋鲍贪僳钾乎报阎盼谦勺甲问氧杂捐侍放旱鸟氯乐可俊室夹爹吗继竞缄剃瓜怪铀伎宙蚀峰防诧姑葛摄拙搽腋培疼襟讽吹羹排还守孩肝帕破乙普垦零庚脑谰陡蹋兜环梨释篷播德缠稗乖雁硼方同氟寅我防篡达增渍石爷猛枷鞍肥仕搏仔蛔转悔朵信牌树旺筏沦射擅肇界蔬掐衙善仍曳族慎遮暮啼孩逝哉折夺磺舶姓萍豢据洞闰插谰厂柄勒剿搂慢勘重涛磁捕峙聚沂膝 教育性晶片測試成果報告(95年度) 學校/系所 IC編號 課程名稱 (中英文) 授課老師 E-mail 專題名稱 (中英文) 參與學生 姓名/系所級 聯絡人 姓名： 電話： 傳真： E-mail : (請從此處開始以中文打字撰寫，以不超過4頁A4為原則，中文字體以楷書12點為主，英文字體以Times 12點為主，並繳交電子檔至testadm@cic.org.tw。) 摘要 (中英文) Abstract Keyword: 測試方法與測試儀器 測試結果 (測試結果請儘可能用量化數據表示，並以圖、表詳加說明) 預計規格與實測結果 討論與結論 圖表(含晶片佈局圖) 報告(電子檔(.doc))請E-mail至testadm@cic.edu.tw。 檔案命名方式: edutest- D35-92D-35e.doc (Word格式) *** Chip Features CAD Tools *** CKT name : (e.g.)cic_08a_silicon_retina (設計名稱) HSPICE Technology : (e.g.)0.6um CMOS 1P3M (使用製程) OPUS Package : (e.g.)48 S/B (包裝種類) Chip Size : (e.g.)4.0 x 4.0 mm2 (晶片面積；mm2) Transistor/Gate Count : (e.g.)4K (電晶體/邏輯閘數) Power Dissipation : (e.g.)6mW (功率消耗；mW) Max. Frequency : (e.g.)10MHz (最高工作頻率，MHz) Testing Results : □function work □partial work □ fail （partial work或fail時請勾選以下之符合原因） □ Layout佈局考慮不周 (電路佈局不對稱或純粹佈局相關失誤)量測儀器之量測範圍考量不周詳導致無法量測或無考慮量測儀器的負載效應佈局考量不周及缺乏完整的EM驗證 (Both)電路設計考量不周 (Design Rule未仔細閱讀等)未考量製程或bonding的variation後製程