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基于线阵CCD 智能微小位移测量系统设计 　　摘要：介绍了一种基于线阵CCD的智能位微小位移测量系统。该系统以CCD器件TCD132D为核心，利用8051单片机组成高速数据采集与处理系统，实现了微小位移的非接触测量，并叙述了系统的硬件和软件设计方法。该系统测量准确，电路实现容易、扩展性好，具有广阔的应用前景。 　　关键词：CCD；非接触测量；微小位移；单片机；时序驱动 　　中图分类号：TN36 文献标识码：A 文章编号：1009-3044（2015）26-0161-03 　　Based on the Intelligence of Linear CCD Tiny Displacement Measurement System Design 　　ZHANG Li-xue 　　（The Research of Information and Communication Engineering，Shijiazhuang Non-commissioned Officer Academy of CAPF，Shijiazhuang 050061，China） 　　Abstract： Introduces a kind of intelligent tiny displacement based on linear CCD measuring system.CCD TCD132D device as the core， the system uses 8051 single chip high-speed data acquisition and processing system， realized the non-contact measurement of tiny displacement， and describes the design method of hardware and software of the system.The system measuring accuracy， easy circuit implementation， good extensibility， has broad application prospects. 　　Key words： CCD； non-contact measurement； tiny displacement； singlechip； time sequence driving 　　近年来，随着新型光电器件的不断涌现和计算机技术的广泛应用，光电非接触测量位移技术得到了长足的发展，智能化的光电测量系统逐渐取代了传统的测量系统，尤其在一些要求测量精度高、实时化、非接触测量领域中，传统测量方法已经不能与之适应。基于线阵CCD的非接触位移测量系统，由于其精度高，动态性好，已经被广泛应用于各种工件的在线检测及高精确度、高速度的检测技术领域，而且便于同计算机组成高性能测控系统[1]。 　　CCD（Charge Coupled Devices）电荷耦合器是一种集光电转换、电荷存储、电荷转移为一体的传感器件。把入射到传感器光敏面上按空间分布的光强信息，转换为按时序串行输出的视频信号[2]。要达到高精确度、高速度测量要求，CCD测量系统必须具有优良的信息处理功能。提出一种利用单片机组成高速数据采集与处理系统，该系统在驱动电路、二值化电路、计数电路等硬件和软件上进行了精心设计，确保了测量数据的精确性。 　　1 测量原理及系统组成 　　1.1测量原理 　　图1示出了线阵CCD平行光法进行非接触位移测量的原理。 　　将线阵CCD置于平行光路前方，被测物放置于平行光路与CCD之间，被测物移动前射向被测物的光一部分挡住，沿边缘部分投向CCD，此部分光与被测物位置有一一对应关系，当物体发生轻微移动，射向CCD的光发生变化，也就代表了被测物位置发生了变化，利用此原理可以测量出被测物的位移。 　　1.2系统组成 　　该系统主要由光源模块、线阵CCD、二值化电路、单片机、显示模块组成。通过CCD对光的感应作用，将光信号转换为电信号后进行二值化处理，然后对位移信号进行接收与处理并显示，实现对位移的测量，如图2所示。 　　光源模块由半导体激光器及棱镜组成，主要产生平行光，采用数块小角度棱镜，直接将激光扩束成任意尺寸的线状平行光源。CCD是一种完成光电转换的图像传感器，广泛应用于几何测量、图像传感、机器视觉等领域。在应用CCD时主要解决的两个问题是CCD驱动时序的产生和CCD输出信号的采集处理[3]，本文选用的线阵CCD是东芝公司的TCD132D，负责把光信号转化为电信号。CCD输出信号为模拟信号，采用二值化电路对信号进行处理，将CCD视频信号中背景与图像信息分离成二值电平信