应用近红外光谱技术快速鉴别铁皮石斛产地.docVIP

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  • 2018-09-07 发布于福建
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应用近红外光谱技术快速鉴别铁皮石斛产地.doc

应用近红外光谱技术快速鉴别铁皮石斛产地

应用近红外光谱技术快速鉴别铁皮石斛产地   摘要:采用近红外漫反射光谱技术结合簇类独立软模式方法(SIMCA)建立了预测模型,并对5个产地的铁皮石斛进行了快速鉴别研究。光谱数据经过Savitzky-Golay(S-G)平滑、1阶Savitzky-Golay(S-G)求导和均值中心化组合光谱预处理和波段选择优化后,所建的SIMCA模型为最佳模型。所建模型的识别率和拒绝率均为100%,而且5个产地铁皮石斛的模型也能拒绝其他3种石斛金钗石斛、紫皮石斛和金石斛。研究表明,模型合理,能够成功实现铁皮石斛产地快速鉴别,为不同产地的铁皮石斛的快速鉴别提供了一种新的方法。   关键词:铁皮石斛;近红外漫反射;产地鉴别   中图分类号: O657.33文献标志码: A文章编号:1002-1302(2016)05-0365-04   铁皮石斛(Dendrobium officinale Kimura et Migo)是兰科石斛属多年生附生草本植物,是传统名贵珍稀中药材,具有益胃生津、滋阴清热等功效[1]。铁皮石斛的主要化学成分包含多糖、氨基酸、生物碱、矿物元素、菲类、联苄类和?酮化合物等[2]。   不同产地的铁皮石斛价格和药用价值差异很大。2013年12月,位于浙江省临安市的天目山铁皮石斛和位于云南省的广南铁皮石斛已经通过国家质检总局批准实施地理标志产品保护[3];2014年5月,浙江省乐清市和广西省容县均被授予“中国铁皮石斛之乡”的称号。目前,在市场上有许多不法商家和企业,用非地理标志产品和非“中国铁皮石斛之乡”的铁皮石斛以次充好,以谋取高额利益。面对如此混乱的市场,非常需要研究1种快速鉴定铁皮石斛产地的技术。   在以前不同产地铁皮石斛的研究中,多以理化试验、紫外分光光度法、高效液相色谱等技术进行试验研究[4-7],这些方法技术耗时、耗力、成本高、须要专业技术人员操作。与以上技术相比,近红外光谱分析技术具有分析速度快、成本低、光谱测量方便、样品前处理简单,且能够最大限度地保留不同产地样本间的微小差异等优点[8],目前该技术已被用于麦冬、当归、人参、白芷、黄芪等药材的产地鉴别,效果较好[9-13]。近年来,国内外相关研究利用近红外光谱技术结合化学计量学对不同种类的石斛进行快速鉴别,均获得较好的结果[14-17],但是该方法用于同一品种石斛不同产地的鉴别研究尚未见报道。主要原因是石斛产地之间的差异主要是受到地理位置、气候条件、栽培技术等多因素影响,这种差异较石斛品种间差异小,因此产地鉴别比品种鉴别困难。本研究利用近红外漫反射光谱法结合簇类独立软模式(soft independent modeling of class analogy,SIMCA)法对5个产地的铁皮石斛进行鉴别分析,旨在为石斛产地的快速鉴别提供新的方法。   1材料与方法   1.1 材料   试验所用的材料为来自安徽霍山、浙江乐清、浙江天目山、广西容县、云南龙陵的铁皮枫斗,分别收集20、30、30、30、30个批次。所有样品来源于中国石斛博物馆。样品用中药粉碎机粉碎,分别过40、60、80目筛,取约2 g样品在上述条件下进行测量。随机把140份石斛样本划分为84份校正集和56份验证集,其中安徽霍山、浙江乐清、浙江天目山、广西容县、云南龙陵分别为12、18、18、18、18份作为校正集样品,剩余的样品作为验证集。   使用仪器:微型近红外光谱仪SmartEye1700(尼迩光电科技有限公司),DFT-100大德不锈钢中药粉碎机(温岭市林大机械有限公司),凯丰实验室电子天平称重精密电子秤(KF-0040)(中国凯丰基团有限公司),不锈钢筛盘(顶历医疗器械有限公司)。   1.2光谱采集   试验所用微型近红外光谱仪,光谱扫描范围为1 000~1 650 nm,分辨率为8 cm-1,扫描次数为50次,由于样品为不透明的粉末状颗粒,所以试验采用积分球的漫反射采样方式。为了保证仪器能量的稳定,每次扫描光谱前,仪器需预热 30 min。在试验过程中,湿度基本保持不变,室内温度保持在25 ℃左右。将样品置于采样窗口区域,以仪器内置背景为参比,100% SpectralonTM标准白板为参考。每个样本在不同时间、不同位置分别采集3次,取其平均光谱作为该样品的原始光谱。   1.3光谱数据预处理   在建立SIMCA模型之前,为消除基线漂移、高频随机噪声和光散射等因素对样品光谱的影响,需要对光谱进行预处理以获得有用信息。样本粒径的大小和均匀度都会对光的漫反射有一定影响;同时样本的密实度也会影响光的传播,因此需要对样本的原始光谱数据进行预处理。为消除光谱数据在采集时首端与末端产生的部分噪音,截取 1 100~1 630 nm波段的光谱数据进行分析。本试验分别采用无处理

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