密集阅读器的环境下RFID系统识别性能的研究.docVIP

密集阅读器的环境下RFID系统识别性能的研究 　　摘 要： 密集阅读器环境下的同信道干扰将显著降低阅读器识别性能，基于Nakagami?m多径信道模型和最大比合并（MRC）算法，推导了多天线分集RFID系统反向识别距离的数学期望值闭合表达式，并遵循ISO18000?6C标准的空口参数进行数值仿真，验证了推导的结论。 　　关键词： 射频识别； 同信道干扰； 多天线分集； 空口参数 　　中图分类号： TN015?34 文献标识码： A 文章编号： 1004?373X（2014）09?0043?04 　　0 引 言 　　作为物联网重要应用之一的超高频（UHF）射频识别（RFID）技术被认为能作为电子条码，替代目前广泛使用的光学条形码，因而备受关注[1]。一次成功的识别要求阅读器激活无源标签，且正确解码标签的反向散射调制信号[2]。反向链路为级联的多径随机信道，标签信号微弱，极易受密集阅读器环境下同频信号的干扰。 　　Do?Yun Kim分析了阅读器空中接口的射频参数，通过公式推导和数值仿真，给出了多阅读器下识别距离的变化情况[3]。Papapostolou A研究了干扰对RFID定位应用的影响[4]。Ferrero R通过改进友邻阅读器防碰撞（Neighbor Friendly Reader Anticollision）协议，来减小阅读器间干扰发生[5]。多天线分集技术能有