多媒体电源管理器芯片APLITE降低测试成本研究-集成电路工程专业论文.docxVIP

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多媒体电源管理器芯片APLITE降低测试成本研究-集成电路工程专业论文

独创性声明 本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作和取得的 研究成果,除了文中特别加以标注和致谢之处外,论文中不包含其他人已经发表 或撰写过的研究成果,也不包含为获得 天津大学 或其他教育机构的学位或证 书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中 作了明确的说明并表示了谢意。 学位论文作者签名: 签字日期: 年 月 日 学位论文版权使用授权书 本学位论文作者完全了解 天津大学 有关保留、使用学位论文的规定。 特授权 天津大学 可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检 索,并采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编以供查阅和借阅。同意学校 向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘。 (保密的学位论文在解密后适用本授权说明) 学位论文作者签名: 导师签名: 签字日期: 年 月 日 签字日期: 年 月 日 摘 要 飞思卡尔的电源管理器芯片广泛应用于各类消费类电子设备,在多媒体设备 的应用尤为广泛。为满足客户应用要求,多媒体电源管理芯片在提供精准并可控 的多路输出电压的同时,还集成了高性能的音频控制,触摸屏控制以及实时时钟 等多媒体应用和接口。其丰富的配置使芯片具有高度的灵活性和集成度,通过与 处理器的结合应用于各种多媒体设备,其广泛的应用给使用者展现出一个丰富的 电子世界。庞大的客户群和应用的多样性为芯片测试提出了更高的要求,电源管 理器芯片测试要在保证其功能和可靠性的前提下实现量产,必须考虑到降低测试 成本问题。本篇论文在介绍电源管理器芯片的原理及测试的基础上,重点从硬件、 软件及工艺分析研究降低测试成本的途径,从而在保证产品稳定性和可靠性的前 提下实现高效率测试。课题对实际生产是有指导意义的,改进后的生产良品率有 显著提升,采用多头并行测试方法后的测试效率是之前的三倍。 关键词:多媒体电源管理器芯片,降低测试成本,稳定性和可靠性,高效 率测试 ABSTRACT Power management IC is widely used in many types of Consumer Electronics, especially in multi-media devices. In order to satisfy customers’ requests, multi-media power management IC can provide accurate and controllable multi-channel output voltage, and it’s also integrated multi-media application and ports, such as high performance audio controller, touch screen controller and real time clock, etc. The abundant configuration makes the IC to be flexible and integrated, when it works with the micro processor in multimedia devices, the applications provide a colorful electrical world to the user. So the client base and various application of the device require the stricter final test of the IC, the test of the power management IC must be in a base of function and reliability to run mass production, and consider the cost reduction of test. This paper firstly introduce the theory of structure and test of power management IC, then focus on the study of test cost reduction from the points of hardware, software and industrial process. The factory premises to ensure the stability and reliability of the product, and based on this, realize high efficient test. T

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